Gebraucht SEC MINI SNE-4500M Plus #293823154 zu verkaufen

ID: 293823154
Scanning Electron Microscope (SEM).
SEC MINI SNE-4500M Plus ist ein Rasterelektronenmikroskop zur detaillierten Beobachtung und Analyse von Proben bei hoher Vergrößerung. Der Standardvergrößerungsbereich liegt bei 6,3 x 1010x und die maximale Vergrößerung bei 6,3 x 1015x, mit mehr als 500 Zwischenschritten durch die Steuerung „UHR Variations Rail“. Die Hochvakuumkammer bietet einen hervorragenden Kontrast der Probe und optimale Bedingungen beim Einsatz. SNE-4500M Plus verfügt über ein Leuchtfeldbeleuchtungssystem, das ein Paar großer Dual-Objektive umfasst, die thermoelektrisch gekühlt sind, um Haltbarkeit und Stabilität im Betrieb zu gewährleisten. Die Kameras verfügen über eine Multifeld-Auswahlfunktion mit einem Vergrößerungsfaktor von bis zu 75.000x und eignen sich somit ideal für eine detaillierte Beobachtung und Bildanalyse. Ein weiteres Hauptmerkmal von SEC MINI SNE-4500M Plus ist seine einzigartige Bildverarbeitungseinheit, die die gleichzeitige Belichtung von bis zu vier gleichzeitig darstellbaren Bildern ermöglicht. SNE-4500M Plus verfügt auch über eine Reihe von Auto-Korrektur-Funktionen, die verwendet werden können, um das elektronische Bild oder Bild zu optimieren. Die Maschine hat auch einen eingebauten Bildrotator und kann das Bild um einen Winkel von ± 90 Grad drehen. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse der Probe aus verschiedenen Winkeln. Der Probenhalter hält Temperaturen bis 500 ° C stand und ist mit einem Vakuumadapter ausgestattet, der den Anschluss anderer Zubehörteile ermöglicht. Darüber hinaus verfügt SEC MINI SNE-4500M Plus über eine Reihe von Funktionen zur Manipulation von Sonden. Es verfügt über ein Joystick-Steuerwerkzeug, um die Sonden zu manipulieren und auch ein Laser-Tracking-Asset, das in das optische Modell integriert ist. Das Lasertracking gewährleistet die Genauigkeit der Sondenmanipulation, wie sie den optischen Wegen folgt. Die Software ermöglicht es dem Benutzer, verschiedene Befehle und Einstellungen einzugeben, die helfen, den gewünschten Bild- oder Bildbereich zu finden. Insgesamt ist SNE-4500M Plus ein extrem vielseitiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das unschätzbare Daten für eine Vielzahl von Proben liefert. Seine Präzision und Genauigkeit macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für Forschung und industriellen Einsatz.
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