Gebraucht SEIKO SEIKI SMI3050SE #9202859 zu verkaufen

ID: 9202859
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2006
FIB Scanning Electron Microscope (SEM), 8" Upto 2" sample sizes Ga+ focused ion beam column for nanoscale fabrication Field emission SEM for observation during FIB processing Image resolution: 4 nm Maximum current density: 30 A/cm² or greater 2006 vintage.
SEIKO SEIKI SMI3050SE Rasterelektronenmikroskop ist ein Hochleistungs-Bildgebungswerkzeug, das für eine Vielzahl von Anwendungen verwendet werden kann, einschließlich Werkstoffwissenschaft, Metallographie, Fehleranalyse und vieles mehr. Das Gerät ist mit einer 30kV Sextuple-Feld Emissionskanone und Dual Gun Control ausgestattet, die klare und sehr detaillierte Bilder ohne Verzerrung liefern kann. SEIKO SEIKI SMI 3050 SE bietet auch einen rückgestreuten Elektronendetektor, der erweiterte 3D-Bildgebungsfunktionen wie Richtungsanalyse, Kontrastverbesserung, Tiefenfeldbildgebung und mehr ermöglicht. In Bezug auf die Auflösung bietet SMI3050SE eine beeindruckende Auflösung von bis zu 15nm, und das Gerät ist auch mit einer automatisierten Z-Achse ausgestattet, die eine genaue Einstellung und Messung gewährleistet. Darüber hinaus ist SMI 3050 SE in der Lage, in einer UHV-Umgebung dank eines standardmäßigen Vollsortiments von Schräganschlüssen und einer verstellbaren Seitenwandbühne eingesetzt zu werden. Das Mikroskop bietet darüber hinaus eine breite Palette fortschrittlicher Bildgebungstechnologien wie digitale Bildverarbeitung und computergestützte Messung sowie eine intuitive Benutzeroberfläche und ein Softwarepaket. SEIKO SEIKI SMI3050SE ist leicht anpassbar und kann an die Bedürfnisse des Benutzers angepasst werden. Das vielseitige Design der Einheit kann eine breite Palette von Probenhaltern und Analysezubehör aufnehmen, die es dem Benutzer ermöglichen, Experimente in einer Vielzahl von Bereichen durchzuführen, einschließlich medizinischer, materieller, biologischer und Halbleiter. SEIKO SEIKI SMI 3050 SE ist mit seinen fortschrittlichen Fähigkeiten ein leistungsfähiges und zuverlässiges Werkzeug für viele wissenschaftliche Forschungsprojekte. SMI3050SE ist ein leistungsstarkes, vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das außergewöhnliche Abbildungsergebnisse liefert. Die erweiterten Funktionen und die Auflösung machen das Gerät perfekt für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Anwendungen, und sein UHV-fähiges Design ermöglicht zuverlässige und konsistente Ergebnisse. Mit seiner Dual-Gun-Steuerung, 3D-Bildverarbeitung, digitaler Bildverarbeitung und computergestützter Messung ist SMI 3050 SE eine ausgezeichnete Wahl für Forschungsprojekte in den Bereichen Medizin, Materialien, Biologie und Halbleiter.
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