Gebraucht SEIKO SMI 3200 #9025735 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9025735
High performance FIB SEM system
Specifications:
Secondary electron image resolution: 4 nm
Maximum probe current density: 30 A/cm2 or more
Maximum probe current: 20 nA
Observation field: 0.5 x 0.5 um to 2 mm
Beam irradiation position stability: 0.1 um/10 min
Acceleration voltage: 5 to 30 kV
Ion source: Ga liquid metal needle ion source
Guaranteed running time: 1000 h
Maximum acceleration voltage: 30 kV
Ion source control: Filament current, suppression electrode, extraction electrode
Lens: Electrostatic type
Blanking: Electrostatic type
Optical axis correction: Electrostatic type
Stigmator correction: Electrostatic type
Adjustable aperture: 2-Axis motor drive
XY Deflector: Electrostatic type
Scan rotation: 0~359.9º / 0.1º Step setting
Currently in storage
2006 vintage.
SEIKO SMI 3200 ist ein leistungsstarkes und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop (SEM), ideal für eine Vielzahl von Anwendungen. Es verfügt über eine Turbopumpe, die ein ultimatives Vakuum bis zu 5x10-4 Pa erzeugt, und seine einzigartige variable Strahltechnologie bietet eine überlegene Bildauflösung mit einem Arbeitsabstand von bis zu 8mm. SMI 3200 enthält einen integrierten Rasterelektronenmikroskopdetektor, der auf bestimmte Arten von Probenanalysen abgestimmt werden kann, und bietet die höchste Empfindlichkeit und Auflösung zur Verfügung. Es ist auch mit einem fortschrittlichen Computer-Controller ausgestattet, um sicherzustellen, dass Daten und Bilder schnell und einfach mit minimalem Eingriff des Bedieners angezeigt werden. Darüber hinaus erleichtert SEIKO SMI 3200 die digitale Bildgebung mit der Fähigkeit, Live-Echtzeit-Bilder verschiedener Größen zu erfassen und Bilder von bis zu 10 nm bis zu mehreren hundert Mikrometern zu analysieren. SMI 3200 ist mit einer ultrahochauflösenden Kamera und einem variablen Sichtfeld ausgestattet, das es dem Bediener ermöglicht, sich auf jeden Bereich der Oberfläche auf jeder Vergrößerungsebene zu konzentrieren, ohne dass Fokusanpassungen erforderlich sind. Zusätzlich kann der Detektor mit Funktionen wie Bright Field Imaging verwendet werden, die ideal für Kristallelemente sind; Kontrastverbesserung, die nanoskalige feine Strukturen auf Probenoberflächen abbilden kann; und Dual-beam Imaging, das sowohl Sekundärelektronen als auch rückgestreute Elektronen für 3D-Bilder kombinieren kann. SEIKO SMI 3200 ist äußerst benutzerfreundlich und verfügt über eine äußerst intuitive grafische Benutzeroberfläche, die eine schnelle und einfache Einrichtung und Bedienung ermöglicht. Zusätzlich ermöglicht das Rasterelektronenmikroskop eine Bildschirmdatenanzeige, die eine sofortige Rückkopplung der Bildanalyseergebnisse ermöglicht. Abschließend ist SMI 3200 ein zuverlässiges und leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, ideal für eine Vielzahl von bildgebenden Anwendungen. Seine überlegene Leistung, benutzerfreundliches Design und zuverlässige Bedienung machen es zum perfekten Werkzeug für die Analyse und Bildgebung von Proben von sehr kleinen bis sehr großen Maßstab.
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