Gebraucht SEIKO SMI 3200 #9095358 zu verkaufen

SEIKO SMI 3200
ID: 9095358
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB SEM).
SEIKO SMI 3200 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine qualitativ hochwertige Bildgebung für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen. Dieses von SMI hergestellte Modell ist in der Lage, eine breite Palette von Auflösungen von 3 nm bis 100 mm bereitzustellen. Es verfügt auch über eine bildgebende Schärfentiefe, die von 1 nm bis 1.000 μ m reichen kann. SMI 3200 verfügt über ein digitales Signalverarbeitungssystem sowie automatisierte Optimierungsfunktionen. Die Einbeziehung fortgeschrittener Ray-Tracing-Algorithmen bietet Benutzern ein außergewöhnlich scharfes Bild mit niedrigem Rauschpegel. SEIKO SMI 3200 ist in der Lage, unter verschiedenen Umgebungsbedingungen zu arbeiten, einschließlich Temperaturen von -25 ° C bis + 40 ° C. Es hat auch ein elektrostatisches Linsensystem, das in einer Vakuumkammer untergebracht ist und einen flexiblen Abtastbereich aufweist. Die elektromagnetischen Strahldetektoren SMI 3200 bieten einen breiten Empfindlichkeitsbereich von 0,1 bis 10 Photonen pro Sekunde. Dies trägt dazu bei, dass die Bildqualität auch bei der Analyse von Proben mit niedrigem Absorptionskoeffizienten nicht beeinträchtigt wird. SEIKO SMI 3200 bietet auch eine Reihe automatisierter Prozesse zur Steuerung des Mikroskops. Dazu gehören automatisierte Optimierungsfunktionen wie automatisierter Fokus, automatisierter Strahlstrom, automatisierte Spotgröße und automatisierte Positionierung. Schließlich hat SMI 3200 eine Vielzahl von Hardware- und Softwareoptionen. Es verfügt über eine umfangreiche Palette von bildgebenden Werkzeugen wie bildgebende Systeme, Detektoren und eine SEM-Basis, die alle mit einer Vielzahl von SEMs kompatibel sind. Diese Tools helfen, dem Benutzer das optimale Bildgebungserlebnis zu bieten. Neben der Hardware bietet SEIKO SMI 3200 auch ein umfangreiches Angebot an Software-Tools zur Datenmanipulation und -analyse. Dazu gehören Werkzeuge wie Mustererkennung und Datensegmentierung, automatisierte Kontrastmessung, 3D-Rendering und Sprachverarbeitung. Insgesamt ist SMI 3200 eine ausgezeichnete Wahl für ein SEM und bietet Anwendern eine breite Palette von Bildgebungs- und Steuerungsfunktionen. SEIKO SMI 3200 ist ein überlegenes Werkzeug für wissenschaftliche Forschung und industrielle Anwendungen, angefangen bei seinen umfangreichen Auflösungen bis hin zu seinen fortschrittlichen Ray-Tracing-Algorithmen und robusten Software-Tools.
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