Gebraucht SEIKO SMI 3200 #9116789 zu verkaufen
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ID: 9116789
FIB System
Advertised resolution: 4nm
Currently achieved resolution: <5nm
Load time: 2’33”
Sample size/stage movement: 8”
Stage tilt: -5o to 60o
Imaging options: secondary electron, secondary ion
Etching capabilities: Ga ion beam, rate dependent on area.
SEIKO SMI 3200 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für hochauflösende, digitale Bildgebung auf einer Vielzahl von Proben entwickelt wurde. Es ist in der Lage, die Probe bis zu 500,000X zu vergrößern und ist mit einer optischen Hochleistungslinse ausgestattet, die eine optimale Auflösung und einen optimalen Kontrast bietet. Es verfügt über eine Feldemissionsquelle, die ihm ein hohes und konsistentes Helligkeitsniveau verleiht. Darüber hinaus ermöglicht sein aktiver rückgestreuter Elektronendetektor (BSE) eine detaillierte Abbildung mit entsprechenden elementaren Karten. Seine schnelle Probenstufe beinhaltet einen Hybrid, der sowohl für das Scannen als auch für das Kippen konzipiert ist. Dies ermöglicht eine automatisierte, präzise Abtastung von Bereichen bis zu 4.000 mm2 und eine direkte Abbildung der Probenoberfläche. Der Betrieb mit niedrigem Vakuum (LVA-SEM) bietet eine ideale Umgebung für die Abbildung nichtleitender Proben. Es ist auch mit einem variablen Druckgerät ausgestattet, das kurze Pumpzeit und hochauflösende Bildgebung bietet. SMI 3200 ist mit einem Röntgen- (EDS/WD) Detektor mit einem hochgenauen 3D-Ausricht- und Verfeinerungssystem ausgestattet, das eine hochauflösende Beobachtung und quantitative Analyse von Probenbereichen ermöglicht. Darüber hinaus ist das Mikroskop auch mit SEIKO RedFilm zur Kristallorientierungsanalyse kompatibel. Darüber hinaus ist die integrierte Bedieneinheit mit intuitiven grafischen Schnittstellen einfach zu bedienen. Das Mikroskop ist auch in der Lage, hochauflösende SEM-Bilder zu erfassen und ermöglicht die Umwandlung von Daten in gängige Formate zur weiteren Analyse. Außerdem wechseln seine Hochleistungsdaten über Maschine erleichtert Analyse durch das schnelle Übertragen von Bildern und quantitativen Daten vom Instrument bis einen Gastgebercomputer. Insgesamt ist SEIKO SMI 3200 eine ideale Wahl für alle, die ein leistungsstarkes SEM suchen. Es verfügt über eine hochauflösende optische Elektronenlinse und einen BSE-Detektor, der eine beispiellose Genauigkeit bei der Bildgebung und elementaren Abbildung bietet. Darüber hinaus machen der Niedervakuumbetrieb, die hybride Probenstufe, der EDS-Detektor und das intuitive Bedienungswerkzeug dieses SEM zu einer ausgezeichneten Wahl für die digitale Bildgebung und Analyse.
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