Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI 2050 #293646429 zu verkaufen

ID: 293646429
Weinlese: 2004
Focused Ion Beam (FIB) system 2004 vintage.
SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050 ist ein führendes Rasterelektronenmikroskop (SEM) auf dem Markt. Es wurde entwickelt, um hervorragende bildgebende und analytische Fähigkeiten mit dem zusätzlichen Vorteil der überlegenen Strahlstabilität und Zuverlässigkeit zu bieten. SEIKO SMI 2050 ist in der Lage, eine 3D-topographische Abbildung der Oberfläche einer Probe bis zum atomaren Niveau bereitzustellen. Es kann in einer Vielzahl von Anwendungen eingesetzt werden, einschließlich Forschung und Qualitätssicherung Aufgaben. SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050 ist ein vielseitiges und leistungsstarkes System mit einer fortschrittlichen Bildgebungs- und Analysesoftware. Es verfügt über ein automatisiertes SPM (Rastersondenmikroskop) zur Analyse der Oberflächentopographie, eine CPD (Kontaktpotentialdifferenz) zur Bestimmung der Probenzusammensetzung, ein EDS (energy dispersive spectroscopy) zur Elementaranalyse und ein SCH (scanning capacity microscope) für nanoelektrische Messungen. Darüber hinaus ist SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-2050 mit einer hochauflösenden Digitalkamera und einer hochwertigen Probenstufe ausgestattet, um eine gute Wiederholbarkeit und Messkonsistenz an der Probe zu gewährleisten. SMI 2050 ist in der Lage, hochpräzise Bildgebung und Analyse. Durch den Einsatz fortgeschrittener Bildgebungsfunktionen wie 3D-SIMS (simultane Kleinwinkel- und Großwinkelbeleuchtung), Zernike-Phasenkontrast und Hellfeldbildgebung ist SII NANOTECHNOLOGY SMI 2050 in der Lage, Bilder mit hoher Detailtreue und Klarheit zu erhalten. Darüber hinaus wurde das Instrument aufgrund seiner Robustheit und hohen Funktionalität für verschiedene Anwendungen eingesetzt, von der Grundlagenforschung bis zur Qualitätssicherung. Die qualitativ hochwertige Leistung und Eigenschaften von SEIKO SMI-2050 machen es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet, wie Materialwissenschaft, Nanoelektronik, Biotechnologie und forensische Wissenschaften. Dank seines fortschrittlichen Detektors und seines leistungsstarken elektronischen Systems ist SMI-2050 in der Lage, hochauflösende, kontrastreiche 3D-Bilder zu erfassen und 2D/3D-Bilder von Mikrostrukturen, Partikeln und Oberflächen zu erzeugen. Seine Tiefenauflösung macht es auch ideal für die Inspektion komplizierter mikroelektrischer und/oder metallurgischer Elemente, wie Halbleiterchips. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI 2050 profitiert ebenfalls von seinen erweiterten Softwarefunktionen. Die SEM Imaging Suite enthält erweiterte Bildanalysesoftware zur einfachen, schnellen und genauen Messung, Quantifizierung und Analyse von Oberflächenbildern. Seine einfach zu bedienende NanoSIMS-Software wird verwendet, um mehrere atomare Parameter wie chemische Konzentration, Korngröße und kristallographische Orientierungen in einer Probe zu korrelieren. SEIKO SMI 2050 ist auch mit Sicherheitsmerkmalen wie benutzerfreundlicher Bedienung und Instrumentensicherheit konzipiert. Die Sicherheitsfunktionen umfassen die Zugriffssteuerung für Benutzer und Authentifizierungssysteme für jeden Benutzer. Insgesamt ist SII NANOTECHNOLOGY SMI-2050 ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument mit einer Reihe von Funktionen, die es ideal für eine Vielzahl von Anwendungen machen. Diese fortschrittliche Technologie ermöglicht es Forschern und Fachleuten der Qualitätssicherung, Informationen über Proben auf der Mikro- und Nanoskala zu erhalten und von ihrer erhöhten Präzision, Zuverlässigkeit und Genauigkeit zu profitieren.
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