Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO SMI-3050 #9078488 zu verkaufen

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050 scanning electron microscope (SEM) ist ein hochmodernes Instrument, das speziell für den Einsatz in der Nanotechnologie entwickelt wurde. Es ist ein hochleistungsfähiges, relativ hochauflösendes SEM mit einer Vielzahl von Funktionen, die eine fortschrittliche Bildgebung und Analyse von nanoskaligen Materialien ermöglichen. SEIKO SMI-3050 ist mit zwei verschiedenen Elektronendetektoren ausgestattet: einem Sekundärelektronendetektor (SE) und einem rückgestreuten Elektronendetektor (BSE). Der SE-Detektor liefert detaillierte Informationen über eine Probenoberfläche, während der BSE-Detektor eine dreidimensionalere Analyse bietet. Darüber hinaus ist SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050 mit einem Everhart-Thornley-Detektor ausgestattet, der eine hochpräzise Abbildung von Oberflächenströmen ermöglicht. SMI-3050 kann Objekte bis zu einer Auflösung von nur 1 Nanometer abbilden. Es verwendet eine neu entwickelte Kaltfeld-Emissionskanone, die außergewöhnliche Stabilität und geringe Geräusche für spektakuläre Bildergebnisse bietet. Zusätzlich bietet das Instrument extrem geringe Probendrift und Vibration für mehr Genauigkeit. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO SMI-3050 bietet eine einzigartige Kombination fortschrittlicher bildgebender Techniken zur Charakterisierung von Oberflächentopographie und Nanostrukturen, einschließlich Zeichnungskarten von Kristallorientierungen, Analyse von Oberflächenpotentialen und -phasen und Untersuchung der Dynamik der Ladungsverteilung. SEIKO SMI-3050 bietet auch eine Reihe von fortschrittlichen analytischen Techniken, wie Energie-dispersive Röntgenspektroskopie (EDX) Fähigkeit, Spektrometrie und Perlenanalyse. EDX kann zur elementaren Kartierung der lokalen Zusammensetzung von Proben verwendet werden, eine nützliche Technik zur Untersuchung von Kontaminanten auf Proben. Spektrometrie ermöglicht die Analyse von Merkmalen wie Korngröße und Zusammensetzung in Proben, während die Perlenanalyse-Funktion es dem Benutzer ermöglicht, die Partikelresonanzfrequenz zu quantifizieren. SII NANOTECHNOLOGY SMI-3050 hat eine starke Präsenz in einer Reihe von Bereichen, wie Materialwissenschaft, Halbleitertechnik und Nanotechnologie. Es ist ein gut geeignetes Werkzeug für Forscher, die sowohl wissenschaftliche als auch technische Materialien wie Metalle, Legierungen, Keramik und Kunststoffe studieren möchten. Seine Fähigkeit, extrem feine Auflösung Bildgebung und eine Reihe von analytischen Techniken bietet es ein unschätzbares Instrument für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen.