Gebraucht SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO XV-300DB #9257399 zu verkaufen

Das SII NanotechnologiesSII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB Rasterelektronenmikroskop ist ein fortschrittliches Forschungsinstrument zur Untersuchung mikroskopischer Partikel. Es ist ein variables Druck-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in Hochvakuum und Niedervakuum (weniger als 10-4) -Umgebungen arbeiten kann. Dies ermöglicht eine größere Bandbreite an Probenmerkmalen sowie eine chemische und physikalische Charakterisierung von Mikro- und Nanopartikeln. SEIKO XV-300DB verwendet eine Kombination von Elektronenquellen wie die Kathodolumineszenz (CL) -Kanone, Rückstreuelektronen (BSE) -Kanone und Sekundärelektronenkanone (SE). Die CL-Pistole verwendet ein achromatisches System, das eine hohe räumliche Auflösung zusammen mit Autofokus-Steuerung ermöglicht. Die BSE-Pistole verwendet einen automatisierten Sekundärelektronendetektor, der hilft, einen besseren bildgebenden Kontrast zu erzielen. Die SE-Pistole verwendet eine elektrostatische Elektronenlinse, die eine hochauflösende Abbildung von Partikeloberflächen ermöglicht. Für die Vergrößerungssteuerung verfügt SII NANOTECHNOLOGY XV-300DB über eine patentierte fortschrittliche digitale Zoomtechnik mit Fingerspitzenkontrolle. Dadurch kann der Anwender selektiv in interessante Bereiche für feinere Analysepunkte zoomen. Darüber hinaus bietet XV-300DB drei Betriebsarten: manuelle, halbautomatische und vollautomatische Modi, die eine effiziente und genaue Bildgebung und Analyse ermöglichen. SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO XV-300DB bietet Besonderheiten für die Probenuntersuchung. Breitere Probenkammern ermöglichen schwerere Proben bis zu 500 Gramm, und die ansprechende automatische Reinigung ermöglicht einen schnellen Probenwechsel. Das Instrument ermöglicht auch anwenderspezifische Herstellungsverfahren wie Sputterbeschichtung, Metallisierung und Polymerisation. SEIKO XV-300DB bietet eine Reihe spezialisierter Bildgebungstechniken auf Basis verschiedener Interaktionsmodi: analytische Einblicke in die Probenzusammensetzung, Bulk Subsurface Imaging, Ultrasharp Imaging und Oberflächenmessungen. Es kann auch für den Einsatz mit mehreren Detektoren angepasst werden: Scannen thermische Mikroskopie und Atomkraft Mikroskopie Spitze Detektor für thermische Analyse und erhöhte Kanten Detektion. Insgesamt ist das SII NanotechnologiesSII NANOTECHNOLOGY XV-300DB scanning electron ein geschlossener Einblick in Partikelmikrostrukturen, der eine präzise Möglichkeit bietet, kleinste Objekte zu untersuchen, die die Datenanalyse und Probencharakterisierung erheblich verbessern können.