Gebraucht TESCAN Mira3 #9308067 zu verkaufen

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ID: 9308067
Weinlese: 2016
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM) Variable pressure field emission SEM High brightness schottky field emitter 4-lens electron optical design Detectors: Everhart-Thornley SE/BSE (ETD) Retractable BSE detector In-Beam BSE detector In-Beam SE detector Low Vacuum Secondary Electron Detector (LVSTD) Optics: Resolution at high-vacuum SE mode 1.2 nm: 30 kV 2.5 nm: 3 kV Resolution at high-vacuum In-Beam SE mode 1 nm: 30 kV Resolution in low-vacuum mode LVSTD 1.5 nm: 30 kV Resolution in beam deceleration mode: 1.5 nm: 3kV 2.5 nm: 200V Maximum field of view: 100 mm 20 mm: 30 mm WD EDX: BRUKER NANO QUANTAX 400 Energy Dispersive X-ray spectrometer Dual 60 mm² XFlash detectors Resolution: 126 eV Mn Kα, 60 eV F Kα, 51 eV C Kα Element detection range: Beryllium (4) to americium (95) Raman: WITEC RISE laser confocal microscope system Laser: Excitation wavelength: 532 nm, 75mW 2016 vintage.
TESCAN Mira3 ist ein Feldemissionsrasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Beobachtung biologischer und geologischer Proben und anderer Materialien in verschiedenen Bereichen konzipiert ist. Das Mikroskop basiert auf dem TESCAN proprietären FEG (Field Emission Gun) EMmi Electron Field Emission System, das hervorragende Auflösungs- und Kontrastbilder liefert, die es für eine Vielzahl von Anwendungen gut geeignet machen. Mira3 vereint die Stabilität und Leistung eines konventionellen Transmissionselektronenmikroskops mit einem Rasterelektronenmikroskop. Dies führt zu einem Instrument, das Auflösungen bis zu 5 nm liefern kann, sowie zu hochauflösenden Bildern mit sehr hoher Dynamik, die bei der Untersuchung der Mikrostruktur von Materialien verwendet werden können. TESCAN- Mira3 können auch eine große Vielseitigkeit bieten, da Proben sowohl in SE (Sekundärelektronen) als auch in BSE (rückgestreute Elektronen) bildgebenden Modi beobachtet werden können. Mit einem beschleunigenden Spannungsbereich von 1 kV bis 30 kV und einem Elektronenstrahlstrom von 0,5 nA bis 10 nA eignet sich Mira3 für verschiedenste Probenanforderungen. Die Probenkammer des Mikroskops basiert auf einem innovativen, patentgeschützten Tesselloplanhalter von TESCAN. Dieser Halter gewährleistet die Stabilität der Proben auch bei Arbeiten mit beschleunigter Spannung bis zu 30 kV und macht Probenhandling und Probenaustausch zu einer Brise. Das Mikroskop weist außerdem eine In-Column-Ionenpistole zur Nachbearbeitung auf, die ein Ätzen von Merkmalen und das Abscheiden von leitfähigen Beschichtungen ermöglicht. Darüber hinaus verfügt TESCAN Mira3 über eine neue Mustercharakterisierungsarchitektur zur Messung relevanter Parameter wie Leitfähigkeit, SIMS-Tiefenprofilierung, SEM-Elementaranalyse und Kammertemperaturmessung. Bei der Bedienung und Benutzerfreundlichkeit verfügt Mira3 über ein intuitives Windows-basiertes Softwarepaket, das verschiedene modulare Tools zur einfachen Probenvorbereitung und -analyse bietet. Diese Software umfasst Funktionen wie automatische Bildnähte, automatisierte Navigation und verschiedene Plugins, die einen synergistischen Betrieb mit anderen analytischen Instrumenten wie SEM-basiertem EDX ermöglichen. Zusammenfassend bietet TESCAN Mira3 Forschern und Technikern ein breites Spektrum an Analysetechniken und eine beeindruckende Auflösung und ist damit ein leistungsfähiges und nützliches Werkzeug für viele Anwendungen in den Bereichen Life Sciences, Materialwissenschaft, Umweltprüfung, Halbleiter- und Metallforschung.
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