Gebraucht TESCAN Vega II #293647242 zu verkaufen

ID: 293647242
Scanning Electron Microscope (SEM) XLU SED BSED Low vacuum option In chamber SSD camera.
TESCAN Vega II ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop), das für die Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Oberflächentopographie, Zusammensetzung und Oberflächeneigenschaften entwickelt wurde. Es ist mit einem doppelten Detektionsdetektor ausgestattet, mit dem sowohl Sekundärelektronen als auch rückgestreute Elektronen gleichzeitig gesammelt werden können, wodurch ein Bereich sowohl qualitativer als auch quantitativer Charakterisierungen durchgeführt werden kann. Dank seiner hochauflösenden Bildgebungsfunktionen erhalten Anwender einen detaillierten Einblick in ihre Proben. Es verfügt über einen ESEM (Environmental SEM) -Detektor, der die Flexibilität des SEM erhöht und die Analyse von geschärften, unbeschädigten und hydratisierten Proben unter Luftatmosphärenbedingungen ermöglicht. TESCAN VEGA-II hat eine Wolfram-Filament-Elektronenquelle, die bis zu 15kV Beschleunigungsspannung bietet. Es verfügt über einen 3-Dimensional Feldemissionsbildprozessor, der eine hochauflösende Bildgebung und die Auflösung kleinerer Funktionen ermöglicht. Die benutzerfreundliche und intuitive Software vereinfacht die Bedienung und bietet eine breite Palette von Bildanalysetools. Vega II verfügt auch über eine automatisierte Bühne und motorisierte Fokussierung, die es Benutzern ermöglicht, ihre Proben während der Bildgebung leicht zu bewegen und anzupassen. Darüber hinaus erhöht das integrierte Nanoprober-System die Zugänglichkeit und erleichtert die genaue Messung von Merkmalen innerhalb der Proben. Insgesamt ist VEGA-II ein leistungsfähiges und zuverlässiges analytisches Bildgebungswerkzeug. Die modernsten Funktionen und das benutzerfreundliche Design machen es zu einer idealen Wahl für Forscher und Ingenieure, die Einblick in die Struktur, Zusammensetzung und Oberflächeneigenschaften ihrer Proben erhalten möchten.
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