Gebraucht TESCAN VEGA III #293633662 zu verkaufen

TESCAN VEGA III Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges, hochautomatisiertes und benutzerfreundliches Instrument, das für fortschrittliche Materialien und biologische Probenforschung entwickelt wurde. Es ist eine vollständig integrierte Plattform, die ein hochproduktives Bildgebungs- und Analysewerkzeug mit mehreren Detektoren zur Probenanalyse und Qualitätskontrolle kombiniert. VEGA III ist mit einer Feldemissionsquelle ausgestattet, die eine hohe Helligkeit, hohe Stabilität und Langzeitleistung bei einer Vielzahl von beschleunigenden Spannungen und Arbeitsabständen liefert. Die Elektronenausrüstung hat eine einstellbare Objektivapertur, während der sphärische Aberrationskorrektor (C S) eine Primstrahlneigung und -verschiebung ermöglicht, um die Auflösung zu optimieren. Das System ist mit der innovativen, patentierten SmartSCAN™ Scanning-Technologie ausgestattet. Es bietet höhere Empfindlichkeit, Auflösung und schnellere Scangeschwindigkeiten und ermöglicht eine schnellere Bildaufnahme als herkömmliche SEMs. Es ist möglich, Bereiche von bis zu 5mm ² bei Auflösungen von bis zu 5nm @ 35kV und eine viel höhere Auflösung von 1nm @ 2kV zu scannen. Die Detektoreinheit besteht aus zwei Sensoren: dem Everhart-Thornley Secondary Electron Detector (ETD) und dem brasilianischen Pt Si Detector (BPSD). Das ETD bietet durch seinen weiten Energiebereich einen hochmodernen Bildkontrast und eine überlegene Kantendefinition, während das BPSD eine erweiterte, energiereichere Bildgebung mit beispielloser Detektionsqualität sowie eine Dehnungsabbildung bietet. Auch erweiterte Anwendungen wie die Mikrosondenanalyse werden unterstützt, indem EDS-Analysen mit einer einzigartigen Kombination aus hoher spektraler Auflösung und hoher spektraler Effizienz sowie Submikron-Positioniergenauigkeit, höherer Stabilität und kontaktlosen Messungen mit dem integrierten Piezo-Scanner verwendet werden. TESCAN VEGA III ist einfach zu bedienen und verfügt über eine automatische Diagnosemaschine, die eine kontinuierliche Überwachung des Zustands des Instruments ermöglicht und seine Leistung überwacht. Dies gewährleistet maximale Betriebszeit und reproduzierbare Ergebnisse. Das Werkzeug ist kompatibel mit einer breiten Palette von Zubehör, wie Detektorhalter, Probenstufen und Kühlgeräte, so dass ultimative Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit.