Gebraucht THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Tecnai F20 #293826742 zu verkaufen

THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Tecnai F20 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das ultrahohe Vergrößerung und Auflösung mit modernster Technologie kombiniert. Der F20 ist in der Lage, in konventionellen, vakuumarmen und umweltfreundlichen Modi abzubilden, was eine außergewöhnliche Probenbesichtigung unter verschiedenen Bedingungen ermöglicht. Die F20 hat eine breite Palette von Vergrößerungen, von x100 bis x500.000. Diese hohe Vergrößerung ist in der Lage, detaillierte Bilder der kleinsten Teilchen und Strukturen zu erzeugen. Die F20 verwendet auch eine Vielzahl von Detektoren, um Informationen in Form von Bildern oder Scans zu erfassen. Beispiele für diese Detektoren sind Sekundärelektronendetektoren, rückgestreute Elektronendetektoren und Röntgenspektrometer. Das F20 verfügt auch über ein erweitertes Neigungssystem, das einen variablen Bereich von Beispielansichtswinkeln bietet. Dieses System wird verwendet, um die Probe zu positionieren und zu orientieren, um die detailliertesten Bilder und Scans zu erfassen. Durch die einstellbare Geometrie der Bühne ist die F20 in der Lage, große Flächen sowie kleine Tiefen mit unglaublicher Auflösung abzubilden. Die F20 verfügt auch über eine breite Palette von Umweltfunktionen. Die umgebende Probenkammer ist in der Lage, Temperatur, Feuchtigkeit und Druckbedingungen zu variieren, um reale Bedingungen zu replizieren. Diese Umgebungseinstellungen ermöglichen es dem Benutzer, Daten zu Proben vor Ort zu erfassen und ihr Verhalten in einer Reihe von Szenarien zu beobachten. Der F20 ist zudem mit einer automatisierten Stufe ausgestattet, die ein wiederholbares und genaues Scannen ermöglicht. Diese Funktion reduziert den Zeitaufwand für die Datenerfassung erheblich und ermöglicht es dem Benutzer, einen Scan abzuschließen, ohne das Muster manuell neu positionieren zu müssen. Darüber hinaus ist der F20 auch mit einer erweiterten Funktion namens ProxTemplate ausgestattet, die in der Lage ist, detaillierte Oberflächendaten effizient zu sammeln. Dieses Merkmal eignet sich besonders zur Messung von Isotopenverteilungen und Oberflächentopologie. Abschließend ist FEI Tecnai F20 ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das eine ultrahohe Vergrößerung und Auflösung mit einer Vielzahl von Umweltoptionen ermöglicht. Seine fortschrittlichen Eigenschaften machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Forscher, die die Struktur kleiner Partikel untersuchen und detaillierte Oberflächendaten sammeln.