Gebraucht THERMO FISHER SCIENTIFIC / PHILIPS / FEI Verios G4 #293800547 zu verkaufen

FEI, in Zusammenarbeit mit PHILIPS und THERMO FISHER SCIENTIFIC, hat THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 Scanning Electron Microscope (SEM) eingeführt, die die neueste Entwicklung in hochauflösenden bildgebenden und analytischen Fähigkeiten darstellt. FEI Verios G4 wurde entwickelt, um Forschern ein leistungsfähiges Werkzeug zur Untersuchung nanoskaliger Strukturen und Materialien mit außergewöhnlicher Klarheit und Präzision zur Verfügung zu stellen. Eines der wichtigsten Merkmale von PHILIPS Verios G4 SEM ist seine ultra-hohe Auflösung Fähigkeiten, bietet Sub-Nanometer-Bildgebung und analytische Leistung. Möglich wird dies durch den Einbau einer Field Emission Gun (FEG) Elektronenquelle, die hochfokussierte Elektronenstrahlen mit überlegener Helligkeit und Stabilität liefert. Verios G4 ist in der Lage, Bilder mit außergewöhnlichen Details und Kontrast zu produzieren, so dass Forscher Proben auf atomarer Skala visualisieren und analysieren können. THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4 ist mit fortschrittlichen Detektionssystemen ausgestattet, die eine Reihe von bildgebenden und analytischen Techniken ermöglichen. Es verfügt über einen vielseitigen Everhart-Thornley Detektor (ETD) für hohe Signal-Rausch-Bildgebung sowie einen In-Beam Secondary Electron (IB-SE) Detektor für oberflächenempfindliche Bildgebung. Darüber hinaus bietet THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 Optionen zur energiedispersiven Röntgenspektroskopie (EDS) und Elektronen-Rückstreuung (EBSD) zur Elementaranalyse und kristallographischen Charakterisierung von Proben. In puncto Performance ist FEI Verios G4 SEM für hohen Durchsatz und Produktivität optimiert. Es verfügt über ein Schnellstrahl-Abtastsystem, das eine schnelle Bilderfassung und Abbildung großer Probenflächen mit minimalem Benutzereingriff ermöglicht. Das SEM integriert auch eine ausgeklügelte Automatisierungs- und Bildverarbeitungssoftware, die rationalisierte Workflows für Datenanalyse und -interpretation ermöglicht. PHILIPS Verios G4 ist mit benutzerfreundlichen Bedienelementen und intuitiven Software-Schnittstellen konzipiert, die Bedienung und Experimente erleichtern. Das System ist mit einer Reihe von Abbildungsmodi ausgestattet, wie hochauflösende Abbildungen, Niederspannungsbilder und Strahlverzögerungsbilder, um verschiedenen Probentypen und analytischen Anforderungen gerecht zu werden. Das SEM bietet auch fortschrittliche Bildverarbeitungswerkzeuge zur Bildverbesserung, Quantifizierung und 3D-Rekonstruktion. Verios G4 SEM ist ein robustes und zuverlässiges Instrument für Forschung und industrielle Anwendungen in Bereichen wie Materialwissenschaft, Biowissenschaften, Nanotechnologie und Halbleitertechnologie. Seine leistungsstarken Fähigkeiten machen es gut geeignet für die Untersuchung einer breiten Palette von Proben, einschließlich Nanopartikeln, Polymeren, biologischen Proben und Halbleiterbauelementen. Abschließend stellt THERMO FISHER SCIENTIFIC Verios G4 Scanning Electron Microscope eine hochmoderne Plattform für nanoskalige Bildgebung und Analyse dar. THERMO FISHER SCIENTIFIC/PHILIPS/FEI Verios G4 bietet mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen, vielseitigen Detektionssystemen und benutzerfreundlichen Schnittstellen ein leistungsstarkes Werkzeug für die Erkundung der mikroskopischen Welt mit beispielloser Klarheit und Detailtreue.