Gebraucht TOPCON ABT-32 #9259781 zu verkaufen

TOPCON ABT-32 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft und Qualitätskontrolle entwickelt wurde. Es verfügt über einen erweiterten Sekundärelektronendetektor (SE) mit überlegenen Signal-Rausch-Verhältnissen und hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten. Sein Design ermöglicht eine genaue Analyse von dünnen Filmen und Geometrien auf Submikronebene. ABT-32 besteht aus einer Hochleistungselektronenquelle, einer Abbildungssäule, einem Mikroprozessor, einem Probenhalter und einer Anordnung von Detektoren. Seine Elektronenquelle kann einen Energiebereich von 1 bis 15 Kilo Elektronenvolt (keV) liefern. Seine bildgebende Säule verfügt über ein einstellbares Vergrößerungs-Feld-von-Ansicht (MFOV) -System, das bis zu 260x Vergrößerung ermöglicht, so dass Sie sich auf Details so klein wie 20nm konzentrieren können. Mit seiner speziell entwickelten In-Column Z Balance kann der Anwender die Stabilität und Geschwindigkeit der Analyse schnell anpassen. Der Mikroprozessor ist in der Lage, 16-Bit-Bilder mit bis zu 10 Bildern pro Sekunde zu analysieren, was eine Hochgeschwindigkeitsanalyse auch der größten und detailliertesten Proben ermöglicht. Sein Probenhalter kann eine Reihe von Probengrößen und Materialien aufnehmen. Und seine Detektoren machen es einfacher, kleinere Partikel zu identifizieren und feine Details zu sammeln. Es verfügt über SE-Detektoren zur genauen Analyse von Dünnschichten und Submikrongeometrien sowie Sekundär- und Rückstreudetektoren für die Energiedispersive Spektroskopie (EDS) und Röntgenmapping. Die erweiterten Funktionen von TOPCON ABT-32 ermöglichen eine detaillierte Abbildung einer Vielzahl von Materialien. Sein effizientes Scanverfahren macht es ideal für die detaillierte Analyse von dünnen Filmen und Submikrongeometrien, wodurch höchste Genauigkeit und Präzision gewährleistet sind. Mit seinen verschiedenen Detektoren und dem praktischen Probenhalter ist ABT-32 das perfekte Werkzeug für jede Materialwissenschaft und Qualitätskontrollanwendung.