Gebraucht TOPCON MI-3080 #9137328 zu verkaufen

TOPCON MI-3080 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine detaillierte Materialanalyse unterstützt. MI-3080 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das das große Sichtfeld eines optischen Fernmikroskops mit einem einzigartigen variablen Druckmikroskop mit der hohen räumlichen Auflösung eines Rasterelektronenmikroskops kombiniert. Dieses hochwertige, vielseitige Instrument ermöglicht es Benutzern, detaillierte elementare Zusammensetzung, Morphologie und Topographie einer Vielzahl von Probenanwendungen zu erwerben, einschließlich Metalle, Keramik, Verbundwerkstoffe, Halbleiter, Polymere und biologische Proben. TOPCON MI-3080 ist mit einer Hochvakuumkammer und einer Vielzahl von Detektoren ausgestattet, darunter Festkörperdetektoren, E-Strahldetektoren und eine CCD-Kamera. Die Hochvakuumkammer ermöglicht es dem Benutzer, mit höheren Vergrößerungen und Auflösungen als mit herkömmlichen optischen Mikroskopen zu arbeiten. Die Vielfalt der Detektoren ermöglicht eine gleichzeitige Signalerfassung sowohl aus dem Elektronenstrahl als auch aus den Sekundärelektronen, wodurch dem Anwender ein breiteres Spektrum an Analysefähigkeiten zur Verfügung steht. MI-3080 verfügt auch über eine automatisierte Stufe, die sowohl mit dem variablen Druck als auch mit dem Standard-Rasterelektronenmodus arbeiten kann. Der Standardmodus ermöglicht Proben von der Lumineszenz bis zur hochauflösenden Bildgebung mit Niederspannung und niedriger Energie. Im variablen Druckmodus kann das Vakuumsystem auf eine zur Untersuchung organischer Materialien geeignete Unterdruckumgebung reduziert werden. Durch die Zugabe von variabler Druckabbildung ist das Instrument in der Lage, eine größere Auswahl an Probentypen und eine niedrigere Spannungsabbildung vorzunehmen. TOPCON MI-3080 ist benutzerfreundlich, robust und zuverlässig, und seine ergonomische Konstruktion ermöglicht es dem Benutzer, Zeit und Aufwand bei der Untersuchung einer Reihe von Proben zu sparen. Das One-Touch-Bedienfeld ermöglicht es dem Benutzer, die Einstellungen schnell anzupassen, Bilder auszurichten und zu zentrieren und den Bildgebungsmodus auszuwählen. Die intuitive grafische Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern auch, verschiedene Einstellungen für die zukünftige Verwendung zuzuweisen und zu speichern. Zusammenfassend ist MI-3080 ein Rasterelektronenmikroskop, das detaillierte Informationen über Materialien auf atomarer Ebene bereitstellen kann. Es kombiniert das große Sichtfeld eines optischen Mikroskops mit einem variablen Druck und einem hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop, wodurch Benutzer organische Materialien sowie metallische, keramische, Verbund-, Halbleiter- und biologische Proben untersuchen können. Ausgestattet mit einer Reihe von Detektoren und einem One-Touch-Bedienfeld ist TOPCON MI-3080 auf Umweltstabilität und ergonomischen Einsatz ausgelegt.