Gebraucht TOPCON MI-3080 #9150383 zu verkaufen

TOPCON MI-3080 ist ein Multimodus-Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probenmaterialien. Dieses hochmoderne Instrument verfügt neben Niederspannungs-Umgebungs-SEM (E-SEM) über Nieder- und Hochvakuum-Rasterelektronenmikroskopie (SEM). Die integrierte Digitalelektronik macht sie vielseitig einsetzbar und für ein vielfältiges Anwendungsspektrum von der Basisbildgebung bis hin zu einer Vielzahl komplexer 3D-Analysen geeignet. Das Gerät verfügt über ein digitales Bildgebungssystem, das eine hochauflösende Bildgebung mit einer Auflösung von bis zu 2 Nanometern und einer beeindruckenden Tiefe von 0,8 nm ermöglicht. Das flexible Design von MI-3080 und die fortschrittliche Balgstufe ermöglichen eine reibungslose Abbildung von Proben bis zu einer Größe von 300 mm x 290 mm. Darüber hinaus wurde das Gerät benutzerfreundlich konzipiert, so dass auch Anfänger schnell einsatzbereit sein können. Für erweiterte Analysen ist TOPCON MI-3080 mit einer Vielzahl von Funktionen ausgestattet. Das Instrument umfasst die Rückstreuelektronen-Detektion (BSE) mit Mittel- und Niederspannungs-Bildgebungsfähigkeiten. Es kommt auch mit einer Reihe von Abbildungstechniken wie BSED im Niederspannungsmodus, SE-Rückstreuung Abbildung im Mittelspannungsmodus, und Gaseous Detector Secondary Electron Imaging (GADSEI) bei niedriger und mittlerer Spannung. Für die Elementaranalyse ist MI-3080 mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, einschließlich einer energiedispersiven Röntgen- (EDS) -Maschine mit 4K-Spektrumauflösung und einem wellenlängendispersiven Röntgen- (WDS) -Werkzeug für die hochauflösende elementare Abbildung. Diese Detektionen können verwendet werden, um eine Vielzahl von Elementaranalysen wie Phasenanalyse, Zusammensetzungsmapping und Korngrößenbildgebung durchzuführen. Darüber hinaus ist das Instrument mit mehreren Zubehörteilen kompatibel, darunter ein geladener Partikeldetektor für die Ionen- und Elektronensäulenanalyse sowie eine Reihe zusätzlicher Software-Tools. Dies bietet überlegene Funktionalität für eine breite Palette von 3D-Analysen, wie analytische FIB-SEM (Foctical Ion Beam - Scanning Electron Microscopy), EBSD (Electron Backscatter Diffraction) und 3D-Druck. Insgesamt ist TOPCON MI-3080 ein fortschrittliches Multi-Mode-SEM, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Probenmaterialien ermöglicht. Die umfassenden bildgebenden Funktionen, das vielseitige Asset-Design und die erweiterten Analysefunktionen machen es ideal für eine breite Palette von Anwendungen.