Gebraucht TOPCON SM 300 #293628530 zu verkaufen

TOPCON SM 300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse von Proben wie Metallen, Keramiken und Verbundwerkstoffen ermöglicht. SM 300 verfügt über eine große Kammerkapazität, so dass der Benutzer je nach Analysebedarf schnell von biologischen Proben auf Leiterplatten oder andere große Gegenstände umschalten kann. Das Instrument scannt Proben mit einem Elektronenstrahl und sammelt Sekundärelektronen, die dann als Bild auf einem integrierten Display angezeigt werden. Dieses Bild kann manipuliert werden, indem man den Winkel des Strahls anpasst, ein- und auszoomt, das Bild schwenkt und dreht und die Helligkeit, den Kontrast und die Farbe des Bildes ändert. TOPCON SM 300 ist mit einem fortschrittlichen Bildgebungssystem ausgestattet, das eine variable Druckkammer zur Optimierung von Bildgebungsparametern verwendet. Dieses Advanced Imaging System (AIS) bietet dem Anwender eine präzise Steuerung der Umgebung der Probe und bietet dank der präzisen Steuerung von Temperatur, Feuchtigkeit und anderen Parametern einen hervorragenden bildgebenden Zustand. SM 300 verfügt über einen hochauflösenden Detektor und leistungsstarke Analysefunktionen. Es bietet präzise automatisierte Bildnahtfunktionen und präzise 3D-Bildgebungsfunktionen. Auf diese Weise kann der Anwender präzise Oberflächenmerkmale und -strukturen bis zur Untermikronebene genau messen. Darüber hinaus ist das Instrument in der Lage, eine X-Strahl-Elementaranalyse mit der Fähigkeit, eine unbegrenzte Anzahl von Elementen zu erkennen und zu identifizieren. Mit dem Instrument ist auch eine spektrale Abbildung möglich, die es dem Benutzer ermöglicht, die elementare Zusammensetzung einer Probe abzubilden und zu analysieren, was einen wichtigen Einblick in die Zusammensetzung und Struktur eines Materials geben kann. Schließlich ist TOPCON SM 300 mit einer Reihe von automatisierten Bildverarbeitungs- und Manipulationsfunktionen ausgestattet, die es dem Benutzer ermöglichen, Artefakte automatisch zu entfernen, Kanten zu verwischen, Helligkeit und Kontrast anzupassen, Partikel zu klassifizieren, Rauschen zu filtern oder 3D-Modelle aus den Bildern zu erstellen. Das Gerät ist auch mikroanalysefähig, so dass der Benutzer das genaue Verhältnis der Elemente in einer Probe messen kann. Insgesamt ist SM 300 ein hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop, das für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. Es ist ideal für Forschungs-, Industrie- und Bildungszwecke und bietet qualitativ hochwertige Bildgebung, präzise automatisierte bildgebende Nähfunktionen, leistungsstarke Analysefunktionen und eine Vielzahl von automatisierten Bildverarbeitungs- und Manipulationsfunktionen. TOPCON SM 300 ist die perfekte Wahl für jedes Labor, das präzise Bildgebung, Elementaranalyse und Mikroanalyse benötigt.