Gebraucht TOPCON SM 300 #9119621 zu verkaufen

TOPCON SM 300 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um hochauflösende Bildgebungsfähigkeiten für eine Vielzahl von Proben bereitzustellen. Das Gerät ist mit einer Hochleistungselektronenoptik ausgestattet, die detaillierte Beobachtungen und Analysen von Mikrostrukturen zwischen 0,5 nm und 1.000nm Auflösung ermöglicht. Es verwendet eine Feldemissionskanone (FEG), um einen fokussierten Elektronenstrahl in Kombination mit einer Vakuumkammer und einem zweistufigen Kondensatorlinsensystem für eine ultrahohe Beschleunigungsspannung von bis zu 300 Kilovolt zu erzeugen. Die Detektoreinheit besteht aus einem Sekundär- und Rückstreuelektronendetektor, der ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis für Abbildungsinformationen liefert. Es ermöglicht dem Bediener auch eine Vielzahl von bildgebenden Techniken, wie kompositorischen Kontrast, Oberflächenbildgebung und 3D-Tomographie. Darüber hinaus vereinfacht die fortschrittliche Bildgebungssoftware mit ihrer intuitiven Oberfläche die Bedienung und ermöglicht die Erstellung von Einzel-, Multi- und Farbindexbildern für Illustrationen und Dokumentationen. SM 300 verfügt über eine breite Palette von automatisierten Funktionen, darunter eine motorisierte Bühne mit einer Genauigkeit von 10 nm, eine Z-Höhenverstellung bis zu 300 mm und einen erweiterten Kurs, der über einen Fußschalter gesteuert wird. Darüber hinaus ermöglicht die Maschine eine einfache Montage und einen Wechsel von Detektoren, Kameras und optischen Komponenten, um Flexibilität für eine Reihe von Anwendungen zu bieten. Darüber hinaus wurde das Tool entwickelt und zertifiziert, um eine Vielzahl von Sicherheitsstandards einzuhalten, und umfasst einen Erdungsleiter für den Anschluss an eine externe ESD-Anlage. Darüber hinaus verwendet das SEM eine Umweltabdichtung, um das Eindringen korrosiver und reaktiver Gase und Dämpfe zu verhindern, während die Probenkammer mit einem Heiz- und Kühlmodell ausgestattet ist, um lange Betriebszeiten ohne manuellen Eingriff zu gewährleisten. Abschließend ist TOPCON SM 300 ein Hochleistungs-SEM, das eine detaillierte Analyse von Proben bis zu 1.000nm Auflösungen ermöglicht. Es enthält eine Vielzahl von Funktionen, die seinen Betrieb maximieren und die Sicherheit für seine Benutzer gewährleisten. Es ist eine ideale Ausrüstung für Benutzer, die eine Kombination aus feinen bildgebenden Fähigkeiten und Benutzerfreundlichkeit benötigen.