Gebraucht TOPCON SM 300 #9220578 zu verkaufen

TOPCON SM 300 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine hervorragende Bildgebung mit außergewöhnlicher Präzision bietet. Es nutzt Elektronenoptik und Rasterstufentechnologien, um hochauflösende Bilder von kleinen Objekten mit bemerkenswerter Klarheit zu erzeugen. SM 300 bietet eine breite Palette von Vergrößerungen für die Bildgebung, beginnend bei 5x und erstreckt sich bis zu einem Maximum von 300.000x. Es ist in der Lage, Bilder mit sehr genauer Schärfentiefe zu erzeugen und Funktionen mit Nanometerauflösung zu detaillieren. Dieses Merkmal macht es in der Lage, die Abbildung auf atomarer Ebene, ermöglicht eine detaillierte Untersuchung und Analyse einer breiten Palette von Materialien. Die von TOPCON SM 300 verwendete Elektronenkanone ist energiegefiltert und ermöglicht es Forschern, die Energie des Elektronenstrahls zu manipulieren, um Bilder höherer Qualität zu erzeugen. Dieses KE kann verwendet werden, um mehr Details zu erhalten, so dass kleinere KEs wie Oberflächenmikrostrukturen und Korngrenzen untersucht werden können. SM 300 verwendet einen hochempfindlichen Detektor, der in der Lage ist, Partikel bis zu 10 bis 100 Picometer nachzuweisen. Dies ermöglicht es Forschern, Merkmale mit sehr hoher Präzision zu unterscheiden und quantitative Informationen über ihre Probe zu erhalten. Darüber hinaus verfügt das Gerät über einen automatisierten Bildverarbeitungsmechanismus, der es Forschern ermöglicht, die vom Scanner gewonnenen Daten schnell und genau auszuwerten. Das Gerät verfügt außerdem über eine hochauflösende Stufe, die das zirkuläre Scannen von Proben ermöglicht und die Aufnahme großer Bilder in kurzer Zeit ermöglicht. TOPCON SM 300 ist auch in der Lage, sehr kleine Merkmale über einen großen Probenbereich abzubilden und seinen Einsatz auf mehrdimensionale Studien auszudehnen. Es ist mit einem leistungsstarken automatisierten Datenanalysesystem ausgestattet, mit dem die Forscher ihre Analyse und Bewertung der Probe schnell durchführen können. Anhand der aus SM 300 gewonnenen Details können Morphologie, Zusammensetzung und Struktur der Proben mit großer Genauigkeit bewertet werden. Darüber hinaus kann es in der Untersuchung von nanoskaligen Materialien verwendet werden, und die Erforschung neuer Materialeigenschaften in verschiedenen Bereichen.