Gebraucht TOPCON SM 300 #9392715 zu verkaufen

ID: 9392715
Scanning Electron Microscope (SEM).
TOPCON SM 300 ist ein Rasterelektronenmikroskop, das mit fortschrittlicher Helligkeit und Auflösung ausgestattet ist und es ermöglicht, hochvergrößerte Bilder einer Vielzahl von Proben bereitzustellen. Es verfügt über eine einzigartige, ultrastabile Vakuumkammer, die eine optimale bildgebende Atmosphäre gewährleistet und die Wirkung von Kontaminationen minimiert. SM 300 ist mit einer fortschrittlichen, robusten Feldemissionselektronenquelle ausgestattet, die es ermöglicht, Bilder mit einem hervorragenden Kontrast und einer Auflösung von 50nm zu erfassen. Es kommt auch mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungsmodi, mit denen Sie Standbilder, Echtzeitsequenzen und vier- und dreidimensionale Bilder aufnehmen können. Die räumliche Auflösung von TOPCON SM 300 kann durch den Einsatz spezieller Kondensatorlinsen und durch die Einstellung von Defokus- und Probenkippwinkel verbessert werden. Diese Technologie ermöglicht die Erfassung von Informationen über die Oberfläche von Proben mit einer Auflösung von bis zu 10nm. Das Mikroskop wird durch analytische Software angetrieben, mit der Sie Proben schnell und einfach analysieren können. Die Software kann Bilder mit Anmerkungen erzeugen, Oberflächenformelemente und Texturen analysieren, 3D-Profile erstellen und Oberflächenformelemente automatisch messen. SM 300 verfügt über leistungsstarke Datenanalyse- und Visualisierungswerkzeuge wie Elementaranalyse, automatisierte Partikelerkennung, thermische Analyse, Bonding-Analyse und mehr. Sie können auch benutzerdefinierte Berichte und Analysen für Ihre Daten erstellen. Insgesamt ist TOPCON SM 300 ein vielseitiges und zuverlässiges Rasterelektronenmikroskop. Mit seinem robusten Design, seiner hervorragenden Helligkeit und Auflösung sowie leistungsstarken Tools zur Datenanalyse und Visualisierung ist es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Forschungs- und Testlabors.
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