Gebraucht VG SCIENTIFIC / THERMO MicroLab 350 #9265078 zu verkaufen

VG SCIENTIFIC/THERMO MicroLab 350 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Mikro- und Nanobilder. Es eignet sich hervorragend für Anwendungen von der materialwissenschaftlichen Forschung bis zur Qualitätskontrolle in der Halbleiterindustrie. THERMO MicroLab 350 verwendet eine fortschrittliche Elektronensäule mit einem variablen Druck- (VPE) -Detektor, der eine überlegene Leistung bei der Abbildung extrem kleiner Merkmale ermöglicht. Das integrierte Design verfügt über automatisierte Komponenten, wie die hochauflösende Feldemissionskanone (FEG), die ein scharfes, kontraststarkes Elektronenbild erzeugt. Es stehen mehrere Detektorkonfigurationen zur Verfügung, um rückgestreute Elektronen (BSE), Sekundärelektronen (SE) oder transmittierte Elektronen (TE) zu detektieren. Das automatisierte Ausrichtsystem sorgt für eine überlegene Abbildung von Mikro- und Nanofunktionen. Der automatisierte Fokus und Aligner ermöglichen eine einfache Abbildung auch komplexer Strukturen. Die Probenstufe ist motorisiert, was eine hohe Geschwindigkeit und präzise Probenhandhabung ermöglicht. Die Probe kann geneigt werden, um ein optimales Abbildungsergebnis für verschiedene Materialien zu erhalten. Das automatische Kontrastverbesserungssystem (ACIS) passt die Kontrasteinstellungen genau an, um die Bildqualität zu optimieren. ACIS erkennt Objekte automatisch im Fokus und wendet die korrekten Kontrasteinstellungen an. Dadurch wird der Zeitaufwand für die Bildverarbeitung reduziert. VG SCIENTIFIC MicroLab 350 unterstützt interaktive Hochgeschwindigkeits-Triangulation (HIDT), um komplexe Strukturen schnell abzubilden. Durch Auswahl verschiedener Detektoren und Betriebsparameter können Anwender Informationen über physikalische Eigenschaften wie Phase, Zusammensetzung und kristalline Struktur für Waferstrukturen erhalten. Insgesamt ist MicroLab 350 SEM eine ideale Lösung für eine Vielzahl von bildgebenden Aufgaben wie die Untersuchung von Frühphasen-Gerätefehlern, die Messung nanoskaliger Merkmale und die Durchführung fortschrittlicher Materialcharakterisierung.