Gebraucht ZEISS Auriga #9067317 zu verkaufen

ZEISS Auriga ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bildgebung, elementare Zusammensetzung und Oberflächenanalyse für eine breite Palette von Materialien. Auriga ist mit einem patentierten Sekundärelektronendetektor ausgestattet, der einen hohen Akzeptanzwinkel bietet, gekoppelt mit seinem großen Signal-Rausch-Verhältnis, für eine überlegene atomare und nanoskopische Bildgebung. Es kann Elektronenbilder von bis zu 1,3 Nanometern (nm) erzeugen. Die bildgebenden Eigenschaften von ZEISS Auriga ergeben einen hervorragenden Kontrast und eine beispiellose Detailtreue. Auriga ist auch mit einem Oxford Instruments EDX-Detektor ausgestattet, der Elementaranalysen durchführen kann. Damit können Daten über die Zusammensetzung von Materialien für eine Vielzahl von Anwendungen gesammelt werden. Die EDX-Funktionen von ZEISS Auriga werden durch die Software Energy Dispersive X-ray Microanalysis (EDXMA) erweitert, mit der Benutzer ihre Daten mit fortschrittlichen Funktionen verarbeiten und analysieren können. In Bezug auf die Oberflächenanalyse ist Auriga mit einem in-situ AFM ausgestattet. Dies ermöglicht die topographische Abbildung verschiedener Materialien und die Charakterisierung von Oberflächenrauhigkeit, Partikelgröße und mechanischen Eigenschaften. Die hohe Auflösung dieses Werkzeugs ermöglicht auch die Analyse von Nanostrukturen, wie Quantenpunkten. Insgesamt ist ZEISS Auriga ein außergewöhnliches SEM, das hochauflösende bildgebende, elementare und oberflächenanalytische Funktionen bietet, die alle für eine Vielzahl von Materialien verwendet werden können. Die Flexibilität dieses Werkzeugs ermöglicht eine breite Palette von Anwendungen, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für jedes Labor.