Gebraucht ZEISS Crossbeam 1540 EsB #9314992 zu verkaufen

ZEISS Crossbeam 1540 EsB Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine Hochleistungsplattform für Anwendungen in Forschung, Industrie und Life Sciences. Es ist mit einem Detektorpaket ausgestattet, das einen zweiachsigen Ablenker und einen Sekundärelektronendetektor für eine sehr hochauflösende Bildgebung enthält. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer fortschrittlichen, automatisierten Probenvorbereitung und -navigation sowie einem Elektronenstrahl-Bildgebungs- und Analysesystem integriert, das über die integrierte ZEISS WorkSpace-Software gesteuert wird. Das SEM hat einen Spannungsbereich von 0-30 kV und eine Beschleunigungsspannung bis 15kV, so dass Proben bis 500 μ m dick abgebildet werden können. Die Probenkammer kann bis zu 200 kg Gewicht aufnehmen und verfügt über Funktionen wie automatischen und programmierbaren Druck, Kryo-Vorbereitung und Vakuumpumpen. Die Detektoreinheit umfasst hochauflösende, energiefilterte Bildgebung, rückgestreute Elektronenbildgebung und EDS (Energy Dispersive Spectroscopy). Die Elektronenoptik ist mit drei Ablenkspulen ausgestattet, die eine Auflösung von bis zu 6 nm im Sekundärelektronenmodus und eine Auflösung von bis zu 0,7 nm im STEM-Modus (Scanning Transmission Electron Microscopy) ermöglichen. Crossbeam 1540 EsB SEM verfügt über Musternavigations- und Manipulationsfunktionen wie automatisierten Schiebetransport, 3-Achsen-Probenstufe, 6-Achsen-Probenstufe und einen Tischproben-Manipulator. Die Navigationsmaschine ist hocheffizient, mit einer erweiterten Benutzeroberfläche, die eine manuelle Musterausrichtung, Navigation und Fokus ermöglicht. Das SEM verfügt auch über eine komplette Reihe von Automatisierungsoptionen wie automatische Probensuche, Ausrichtung und Analyse/Reporting-Funktionen, die einen hohen Probendurchsatz ermöglichen. Für zusätzlichen Komfort verfügt das Mikroskop über integrierte Funktionen wie eine automatisierte Partikelgrößen- und Morphologieanalyse, automatisiertes Be- und Entladen von Proben und einen zweiachsigen motorisierten Elektronenstrahldruckscanner. Darüber hinaus umfasst das SEM Stufenlasten von bis zu 200 kg und einen robusten Satz von Datenberichts- und statistischen Analysetools, die zuverlässige und konsistente Ergebnisse ermöglichen. ZEISS Crossbeam 1540 EsB SEM ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben. Es bietet Forschern und Industriewissenschaftlern erweiterte Bildgebungs- und Analysefähigkeiten, die eine hochgenaue und umfassende Probenanalyse ermöglichen. Mit seiner Auflösung, Geschwindigkeit und seinem hohen Durchsatz bietet das Tool eine effiziente und benutzerfreundliche Plattform für eine Reihe von Anwendungen.