Gebraucht ZEISS EM 109 #293592393 zu verkaufen
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ID: 293592393
Transmission Electron Microscope (TEM)
Wavelength of visible light: 380-750 nm
Electron beams
Shorter wavelength than visible light
Copper grids
Contrasted with heavy metal salts
Digital camera: Black and white.
ZEISS EM 109 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), das entwickelt wurde, um eine überlegene Probenbildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen. Es verfügt über eine hochauflösende, rauscharme bildgebende Ausrüstung mit einer Vielzahl von bildgebenden und analytischen Funktionen. EM 109 ist mit einer Standard-Mikroskopauflösung von 5 nm sowie einer optionalen Auflösung von 3 nm ausgestattet. Das System ist in der Lage, dreidimensionale Bilder von Proben mit einer Dicke von bis zu 500 Mikrometern zu erzeugen. ZEISS EM 109 verfügt über eine robuste Computereinheit mit einer Windows 10-Betriebsmaschine, einem aktiven Vakuumventil und einer optionalen digitalen Hochspannungsautotuning für den Probenbetrieb. Es nutzt auch eine Reihe von automatisierten Analyseoperationen wie Standard-Flachfeld-, Dunkelfeld- und Differenzbildgebung sowie energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS), um Probenkomponenten zu identifizieren. Zusätzlich ist das Instrument mit einer optionalen Niedervakuum-Abbildungskammer zum Sammeln von Proben oder zur Bildgebung im Niedervakuumbetrieb ausgestattet. Die EM 109 ist ferner mit einem ausgewogenen Strahlwerkzeug zur Reduzierung von Abbildungsverzerrungen durch Probenaufladung sowie einer optionalen Niedervakuumkammer und halbautomatischen Neigungsstufen zur Abtastung von Proben sowohl im reflektierenden als auch im Schattenmodus ausgestattet. Es ist auch in der Lage, 3D-Tomogramme oder Scheiben der Probe zu erzeugen, um den Benutzern eine detailliertere Visualisierung ihrer Probe zu ermöglichen. Darüber hinaus verfügt die Mikroskopie über eine Vielzahl von Zubehör, wie Szintillatoren und optische Systeme, um die Bildqualität und Leistung anzupassen. Kurz gesagt, ZEISS EM 109 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das entwickelt wurde, um eine überlegene Probenbildgebung in einer Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen. Es verfügt über hochauflösende Bildgebung, automatisierte Analyseoperationen, ein ausgewogenes Strahlmodell, 3D-Tomogramme sowie Zubehör zur Anpassung der Bildqualität und -leistung.
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