Gebraucht ZEISS EM 109 #293610285 zu verkaufen

ZEISS EM 109 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Analysegerät, das eine hochauflösende, dreidimensionale Abbildung von Oberflächenmorphologie und Nanostruktur unterschiedlichster Materialien ermöglicht. Es verfügt über eine große Kammer, die bis zu fünfundzwanzig Millimeter Durchmesser Proben aufnehmen kann und ist in der Lage, eine Probe bis zu 400.000 Mal seiner ursprünglichen Größe zu vergrößern. Das SEM verfügt über sekundäre und rückstreuende Elektronendetektoren, um verschiedene Merkmale der Probe zu detektieren, sowie einen energiedispersiven Spektroskopie (EDS) -Detektor, um die elementare Zusammensetzung der Probe im umgebenden Volumen zu detektieren. EM 109 SEM ist mit einem Hochvakuumsystem ausgestattet, um die Wechselwirkungen zwischen Probe und Umgebung zu minimieren und eine genaue Bilderfassung zu ermöglichen. Seine hochauflösende Bildgebung und die Fähigkeit, Struktur und elementare Zusammensetzung zu erkennen, machen es zu einem idealen Werkzeug für die Analyse mikroskopischer Oberflächenmerkmale und Nanostruktur. Mit der Fähigkeit, Auflösungen bis zu 1 Nanometer zu erreichen, ist das SEM in der Lage, feine Details der Oberfläche und ihrer zugehörigen Nanostruktur aufzulösen. Die bildgebenden Funktionen von ZEISS EM 109 SEM werden durch die automatisierte Stufe, die eine Fahrt von bis zu fünfundfünfzig Millimetern mit Nanometerauflösung ermöglicht, weiter verbessert. Automatisierte Bildnähte und automatische Belichtung sorgen für genaue, reproduzierbare Bilder und reduzieren den Zeitaufwand für die Erfassung der Bilddaten erheblich. Dadurch kann der Anwender schnell hochauflösende Bilder von großflächigen Proben aufnehmen. EM 109 SEM umfasst zudem umfassende Software-Suiten zur Datenerfassung und -analyse. Dies ermöglicht eine automatisierte Bildgebung und Analyse sowie eine nachbearbeitete Analyse zur Erstellung von 3D-Rekonstruktionen und volumetrischen Bildern für einen noch weiteren Einblick in die Mikrostruktur der Probe. Neben seinen bildgebenden Fähigkeiten ist ZEISS EM 109 SEM eine ausgezeichnete Plattform für die Materialcharakterisierung und bietet Anwendern eine Reihe von digitalen und Messanalysetools. Das SEM kombiniert fortschrittliche Hardware- und Softwaresysteme, um dem Anwender die genaue Messung der Probenmaße bis auf ein Nanometer Präzision zu ermöglichen. Es hat auch die Fähigkeit, atomare Säulenfehler, Korngrenzen und planare Defekte zu erkennen, Korngröße und Orientierung zu quantifizieren und Oberflächenrauhigkeit zu charakterisieren. Insgesamt ist EM 109 SEM ein unschätzbares und vielseitiges Werkzeug, das es Wissenschaftlern ermöglicht, eine detaillierte Analyse und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien durchzuführen. Mit seinen hochauflösenden Bildgebungsfunktionen und leistungsstarken Datenanalyse-Tools können Anwender einen unschätzbaren Einblick in die Mikrostruktur und Atomfunktionen einer Probe erhalten.