Gebraucht ZEISS EVO 25 #293797954 zu verkaufen

ID: 293797954
Scanning Electron Microscope (SEM) LaB6 Filament W Wehnelt Detectors: SE, BSE, CD2 Door camera with NavCAM Function Front chamber camera, 45° ZRT Stage Ortho stage Extension stage Sample holder EATON NOVA / AXCELIS Voltage inverter Dry rotary pump VIB and TEC Duo anti-vibration system.
ZEISS EVO 25 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop, ideal für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen. Dieses hochmoderne Instrument verwendet fokussierte Ionenstrahl- und Rasterelektronenstrahltechnologien, um Bilder mit beispiellosen Detailebenen zu versehen. EVO 25 bietet eine hervorragende Bildauflösung und verfügt über die Fähigkeit, Bilder im nanoskaligen Bereich zu erfassen und liefert extrem hochauflösende Bilder von Proben mit hohem Kontrast und Genauigkeit. Das Mikroskop verfügt über eine digitale ultralange Puls Raygun Elektronenkanone, die hervorragende Bildgebung bei jeder Vergrößerung bieten kann, so dass es ideal für Elektronenmikroskopie-Anwendungen. ZEISS EVO 25 hat ein einzigartiges Design, das viele verschiedene Konfigurationen für die Beispielanzeige ermöglicht, so dass es eine gute Wahl für Benutzer, die hohe bildgebende Details und Genauigkeit erfordern. EVO 25 verwendet eine Vielzahl von Detektoren, um Bilder von Proben zu erfassen und zu verarbeiten, einschließlich eines erweiterten Entfernungsdetektors (ARD), eines Rasterelektronenmikroskopie (SEM) -Detektors, eines Sekundärelektronendetektors (SE) und eines hochauflösenden Kathodolumineszenzdetektors (CLD D ector). Die ARD bietet Bilder von bis zu 1.024 Pixeln Auflösung und kann eine Vielzahl von Elementen erkennen, von leichten Elementen bis zu Schwermetallen. Der SEM-Detektor erfasst auflösende Bilder bis zu 1.024, und der SE-Detektor bietet auflösende Bilder bis zu 5.120. Schließlich bietet das CLD Bilder in hoher Auflösung mit hervorragendem Kontrast. ZEISS EVO 25 verfügt auch über eine Reihe von anpassbaren Funktionen, wie integrierte Farbkorrekturfilter, fortgeschrittene Fokussierungstechniken, ringförmige Detektoren zur Identifizierung von Partikeln und einen leeren Scan-Nanoanalysator zur Analyse von Oberflächenmerkmalen. Benutzer haben die Flexibilität, je nach Anwendung eine Vielzahl von Benutzeranpassungen vorzunehmen, wie z. B. das Ändern des Strahlstroms, die Beschleunigung der Spannung und die Spotgröße. Darüber hinaus ist EVO 25 mit einer Vielzahl von Probenhaltern kompatibel, um eine effiziente Probenvorbereitung zu ermöglichen. Darüber hinaus ist ZEISS EVO 25 einfach zu bedienen und verfügt über eine intuitive Software zur optimierten Steuerung des Mikroskops. Die intuitive Benutzeroberfläche ermöglicht es Benutzern, verschiedene Aspekte des Mikroskops zu steuern, wie Fokus, Sichtfeld und andere Parameter. Der integrierte Assistent führt Benutzer bei der Auswahl der besten Parameter für ihre Anwendung. Insgesamt ist EVO 25 ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop, das eine hervorragende Bildauflösung und -genauigkeit sowie die Flexibilität bietet, benutzerdefinierte Anpassungen für seine verschiedenen Anwendungen vorzunehmen.
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