Gebraucht ZEISS EVO 40 #293592536 zu verkaufen

ZEISS EVO 40 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein hochauflösendes bildgebendes Werkzeug zur Untersuchung von Proben im Nanoskalibereich. Mit einem maximalen Arbeitsabstand von einem Millimeter, einem kleinen Spotsichtfeld (FOV) von 5 nm und einer Auflösung von bis zu 5 µm ist EVO 40 eine ausgezeichnete Wahl für extrem präzise Bildgebung und Analyse. ZEISS EVO 40 ist ein aberrationskorrigiertes SEM mit einer Kaltfeld-Emissionskanone (FEG) und Dünnschichtbeschichtungsfähigkeiten. Das FEG erzeugt einen hochfokussierten Elektronenstrahl, der außerordentlich glatte Oberflächenbilder mit geringem Rauschen und sehr guter Kantendefinition erzeugen kann. Das Dünnschichtbeschichtungsverfahren bietet eine dünne Schutzschicht für die Probenoberfläche und ermöglicht gleichzeitig eine hohe Detektionsfähigkeit und Kontrast des Elektronenstrahls. EVO 40 enthält auch einen Rückstreudetektor und einen Sekundärelektronendetektor, die sehr detaillierte Bilder verschiedener Eigenschaften wie Oberflächenzusammensetzung, Korngröße und andere Eigenschaften von Oberflächen ermöglichen. ZEISS EVO 40 enthält auch fortschrittliche Software zur verbesserten Bildanalyse. Erweiterte Mess- und Bildgebungswerkzeuge wie 3D-Rekonstruktion, Linienscan und fortgeschrittene Kontrastmethoden stehen ebenfalls zur Verfügung. Diese Werkzeuge ermöglichen es dem Anwender, eine Vielzahl von Messungen durchzuführen, darunter Morphologie, Flächen- und Maßmessungen, Oberflächenrauhigkeit und Kristallinität sowie komplexe Gerätestrukturen. Darüber hinaus bietet EVO 40 eine Vielzahl von Probenhaltern, um Kompatibilität und Sicherheit zu gewährleisten. ZEISS EVO 40 ist mit einer leistungsstarken optischen und rasterelektronenmikroskopischen Haupteinheit aufgebaut. Das Instrument ist für den sicheren Betrieb und die Wartung konzipiert und bietet Funktionen wie ein eingebautes Sicherheitssystem, ein Temperaturüberwachungs- und Warnsystem und einen unabhängigen Schlüssel zum Verriegeln des Mikroskops, um eine sichere Verwendung zu gewährleisten. Die Benutzeroberfläche ist intuitiv und bietet einfache grafische Benutzeroberflächen sowie erweiterte Mess- und Bildgebungswerkzeuge. EVO 40 bietet einzigartige, hochpräzise Bildgebungsfunktionen zu einem erschwinglichen Preis und ist damit ein ideales SEM für eine Vielzahl von Anwendungen. Mit der persönlichen Schnittstelle, der präzisen Bildgebung und zuverlässigen Beschichtungen und Detektoren ist ZEISS EVO 40 das perfekte Werkzeug für die Mikroskopieforschung und -analyse.