Gebraucht ZEISS EVO 40 #9204591 zu verkaufen

ZEISS EVO 40 ist ein weltweit führendes, feldemissionsrasterelektronenmikroskop (FESEM), das überlegene Bildgebungsleistung mit schneller Datenerfassung kombiniert. Auf diese Weise können Benutzer Proben schnell scannen, identifizieren und mit unübertroffener Genauigkeit und Detailtreue charakterisieren. EVO 40 ist mit einem modularen In-Column-Energiefilter aufgebaut, der drahtlos mit einem energiedispersiven Röntgensystem verbunden ist. Dadurch kann der Anwender elementare Verteilungen in einer Probe mittels Röntgenspektroskopie genau identifizieren. Das große Sichtfeld des FESEM macht es theoretisch möglich, eine ganze Probe in einem Schuss zu erfassen und dem Anwender vor dem Zoomen schnell ein detailliertes Bild der Probe zu liefern. ZEISS EVO 40 vereinigt den patentierten Variablendruck des Unternehmens, Elektronmikroskopie (VP-SEM) Technologie scannend, die den Hauptvakuumdruck innerhalb des Raums zu einem Maximum von 5 µPa reduziert, die höchste Beschlussbildaufbereitung von nichtleitenden Materialien berücksichtigend. Dies reduziert auch den Elektronenstrahldurchmesser auf nur 1,2 nm - ein Durchbruch in der ultrahochauflösenden Bildgebung und Analyse. EVO 40 hat auch die Fähigkeit, Echtzeit-Sekundärelektronenbildgebung mit seinem patentierten AccVolt-Energiefilter durchzuführen und dem Benutzer digitale Bilder von den Oberflächenmikromerkmalen der Probe zur Verfügung zu stellen. Der AccVolt-Filter ermöglicht es dem Benutzer auch, Bilder mit einem einfachen Klick automatisch zu kalibrieren. Um trotz langer Betriebszeiten eine optimale Leistung zu gewährleisten, umfasst das Design von ZEISS EVO 40 hocheffiziente Kühlmechanismen im gesamten System, um eine konstante Temperatur aufrechtzuerhalten und Probenschäden zu vermeiden. EVO 40 bietet seinerseits erweiterte Analysefähigkeiten - wie EDS- und WDS-Analyse, eine Art Mehrkomponenten-Röntgenanalyse - neben den üblicheren SEM-Analysetechniken wie EBSD, CL und energiefilterter Bildgebung. Das FESEM verfügt auch über ein leistungsfähiges Partikelanalysepaket als Teil seiner fortschrittlichen Analytik, die Größe, Morphologie, chemische und kristalline Zusammensetzung eines Materials messen kann. Schließlich bietet ZEISS EVO 40 ein Automatisierungspaket zur Steuerung der Instrumenten- und Prozessmusteranalyse, mit dem Benutzer wiederholte Operationen schnell programmieren, Daten mit hoher Geschwindigkeit sammeln und sogar die Bildanalyse automatisieren können. Insgesamt ist EVO 40 ein hochentwickeltes Rasterelektronenmikroskop, das die bestmögliche Bildgebungs- und Analyseleistung bietet. Die Kombination aus hochauflösender Bildgebung, leistungsstarker Röntgenanalyse, fortschrittlichen Analysefunktionen und automatisierter Probensteuerung machen es zu einem idealen Instrument für jedes Labor, das höchste Leistung in einem All-in-One-Mikroskop erfordert.