Gebraucht ZEISS EVO 50 VP #293762728 zu verkaufen

ZEISS EVO 50 VP Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Werkzeug, das für erstklassige Bildgebungsleistung entwickelt wurde. Es basiert auf der FEG-Technologie (Patented Field Emission Gun) und liefert höhere Beschleunigungsspannungen für mehr Flexibilität und bildgebende Funktionen. Die hervorragende Leistung dieses Mikroskops liefert die innovative ZEISS Palanix Plattform, die außergewöhnliche Produktivität, Flexibilität und Leistung bietet. Dieses erstklassige Mikroskop ist ergonomisch gestaltet und bietet Anwendern einen intuitiven Workflow. Mit dem In-Objektiv-Detektor und der Feldemissionsquelle ist dieses Mikroskop in der Lage, Bilder mit sehr hoher Auflösung und Kontrast zu erfassen. Das Twin Lens System wurde entwickelt, um unerwünschte Geräusche zu minimieren und die Bildschärfe zu optimieren. Darüber hinaus ermöglicht eine optimierte Elektronenoptik in Verbindung mit fortschrittlicher Bildverarbeitung außergewöhnliche Abbildungsergebnisse. EVO 50 VP SEM bietet Auflösungen von 0,2 nm bis über 5.000nm, so dass es in der Lage ist, eine breite Palette von Objekttypen von kleinen biologischen Materialien bis zu großen Objekten abzubilden. Das Mikroskop kann auch eine Vielzahl von Materialeigenschaften wie Mikrostruktur, Zusammensetzung und Kristallstruktur erfassen und analysieren. Darüber hinaus helfen fortschrittliche automatisierte Bildgebungswerkzeuge im Mikroskop, den Workflow und den gesamten Bildgebungsprozess zu beschleunigen. Weitere Merkmale von ZEISS EVO 50 VP sind der Tropes ED EDS-Detektor, der spektrale Bildgebungsfunktionen bietet; ZEISS Energy Filter Detector (EFD), der für die Z-Kontrast-Bildgebung verwendet wird; und ZEISS Everhart-Thornley-Detektor, der Sekundärelektronen, rückstreuende Elektronen und Reflexionselektronen detektieren kann. Darüber hinaus verfügt EVO 50 VP über anpassbare Benutzereinstellungen für eine benutzerfreundliche Bedienung und eine große Beobachtungskammer, so dass Proben vor Ort bearbeitet werden können. Die interne Detektoreinheit liefert Röntgendaten für die Elementaranalyse und Phasenzusammensetzungsanalyse, während eine breite Palette von externen Stufen eine Probenmanipulation ermöglicht. Mit seinen leistungsstarken, aber benutzerfreundlichen Funktionen bietet dieses SEM überlegene Bildgebungsfunktionen, unabhängig von der Anwendung.