Gebraucht ZEISS EVO 50 #293830550 zu verkaufen

ZEISS EVO 50
ID: 293830550
Scanning Electron Microscope (SEM).
ZEISS EVO 50 ist ein Hochleistungs-Rasterelektronenmikroskop (SEM). Ein Rasterelektronenmikroskop ermöglicht die Abbildung von Objekten von wenigen Nanometern bis zu mehreren Millimetern Größe. Es ist ein wichtiges Werkzeug für eine Vielzahl von Anwendungen in der Forschung und Materialwissenschaft, von der Abbildung von Nanomaterialien bis zur Analyse von Mikrostrukturen und organischen Materialien. EVO 50 ist ein fortschrittliches Modell von SEM, das die neueste Technologie verwendet, um hochauflösende Bildgebung, überlegene Schärfentiefe und ausgezeichnete Oberflächenqualität bereitzustellen. Es ist mit einer hochmodernen Schottky-Feldemissionskanone (FEG) ausgestattet, die extrem niedrige Beschleunigungs- und Elektronenlandespannung bietet, was zu einer überlegenen Auflösung und Bildqualität führt. Die Pistole ist auch in der Lage, niedrig dosierte und Hochstrom-Bildgebung durchführen, so dass eine effiziente Probenuntersuchung. Ferner weist das Instrument eine hochfrequente, kontrastreiche Kathode zur stabilen und wiederholbaren Bildgebung auf. ZEISS EVO 50 hat einen Kammerdruck von 2 x 10-5 mbar und ermöglicht eine präzise Manipulation von Vakuum- und Zerstäubungsbedingungen, die für einen zuverlässigen Betrieb entscheidend sind. Darüber hinaus kann es aufgrund seines großen Dynamikbereichs mehrere Probentypen verarbeiten, von organischen und biologischen Materialien bis hin zu makroskopischen Objekten und festen dünnen Filmen. EVO 50 ist mit einem Sekundärelektronendetektor (SE) und einem BSE-Detektor (Back Scattered Electron) für erweiterte bildgebende Funktionen ausgestattet. Der SE-Detektor ist in der Lage, kontrastreiche, hochauflösende Bilder mit ausgezeichneter Schärfentiefe zu erzeugen, die eine detaillierte Beobachtung der Proben ermöglichen. Andererseits ist der BSE-Detektor ideal für die Abbildung von Oberflächentopographie und Zusammensetzung makroskopischer und nanoskaliger Merkmale. Um die Probenanalyse zu erleichtern, wird ZEISS EVO 50 mit fortschrittlichen Probenhandhabungswerkzeugen wie einem piezoelektrischen Probenhalter, einer Environmental SEM (ESEM) -Kammer und einem Driftkompensationsmerkmal geliefert. Der piezoelektrische Probenhalter ist in der Lage, Proben bis zu 50 kg Gewicht zu stützen und um unterschiedliche Winkel zu kippen und zu drehen. Die ESEM-Kammer ist eine druckgesteuerte Umgebungskammer, die speziell für die Analyse von nassen Proben und nichtleitenden/niederleitenden Proben ausgelegt ist. Schließlich ermöglicht die Driftkompensationsfunktion dem Instrument, unerwünschte Probenbewegungen oder Vibrationen zu reduzieren und eine genaue Datenerfassung in einer schwankenden Umgebung zu gewährleisten. Insgesamt ist EVO 50 ein fortschrittliches, funktionsreiches Rasterelektronenmikroskop mit hervorragenden bildgebenden und analytischen Funktionen. Es ist eine ideale Lösung für eine Vielzahl von Forschungs- und materialwissenschaftlichen Anwendungen, bei denen hochauflösende Bildgebung und Analyse erforderlich sind.
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