Gebraucht ZEISS EVO 50 #9207565 zu verkaufen

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ID: 9207565
Weinlese: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM) (2) Vacuum pumps Water chiller Back scattering detector Source: Tungsten filament Options: Substrates capability, 8" SEM Option: Environmental Operating system: Windows XP Motorized stages: X, Y, Z 2004 vintage.
Ein ZEISS EVO 50 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein Hochleistungs-Benchtop-Mikroskop von ZEISS, das zur Präzisionsbeobachtung von Proben entwickelt wurde. Seine Hauptanwendungen sind in den Material- und Biowissenschaften, so dass Forscher eine Vielzahl von Materialien und biologischen Proben im Detail untersuchen können. Dieses Mikroskop bietet eine Reihe von Funktionen und Anwendungen, so dass es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet ist. EVO 50 ist mit einer ganzen Reihe von Zubehör und Funktionen ausgestattet, so dass es ein vielseitiges Instrument für Forschung und industriellen Einsatz. Es verfügt über einen TOF-SIMS-Detektor für die Sekundärelektronenbildgebung, eine automatische Fokusanpassung für die Probeninspektion und eine automatisierte Waferstufe für eine präzise Probenpositionierung. Das Mikroskop umfasst auch eine Vielzahl automatisierter Funktionen, wie automatisierte Stigmatisierung, Drift und Energieeinstellung von Detektoren. Darüber hinaus ermöglicht ZEISS EVO 50 Benutzern die Durchführung verschiedener Arten von Kontrastanalysen, wie Fernkathodolumineszenzbildgebung und Röntgenelementspektroskopie. Für die Bildgebung verwendet EVO 50 eine Feldemissionselektronenquelle und einen kontinuierlichen Basisspannungsbereich von 0,5-30 kV. Es bietet eine TNC-basierte analoge Schnittstelle mit hoher Auflösung und Videoausgabe für eine bequeme Betrachtung. Das Mikroskop umfasst auch eine Reihe von Zubehörteilen, wie eine thermische Flüssigstickstoff-Kältestufe zur Kühlung biologischer Proben und ein Stufenmanipulationssystem zur automatischen Abtastung. In puncto Performance produziert ZEISS EVO 50 hochwertige Bilder mit Vergrößerungen von bis zu 50.000x. Das Mikroskop hat einen Punkt-zu-Punkt-Auflösungsbereich von 3-15 nm, mit einem zugänglichen Sichtfeld von 0,2-4,5 µm. Es bietet auch eine Vielzahl von bildgebenden Modi, einschließlich Top-down und Back-Scattering-Bildgebung, sowie drei- bis vierdimensionale Bildgebung. EVO 50 ist mit einem umfassenden Softwarepaket ausgestattet, um die Bedienung zu vereinfachen und die Verwendung für Forscher und Techniker zu erleichtern. Es enthält Beispielsteuerungssoftware, mit der Benutzer Parameter wie Detektorintensitäten und Belichtungszeiten anpassen können. Die Software ermöglicht es Benutzern auch, Bilder zu analysieren, wie beispielsweise Proben zu messen, Elementaranalysen durchzuführen und 3D-Modelle zu erstellen. Darüber hinaus verfügt ZEISS EVO 50 über eine Reihe von Sicherheitsmerkmalen, darunter einen Notabschalter und ein externes Bedienfeld. EVO 50 wurde entwickelt, um den Anforderungen von Forschern und industriellen Anwendern gleichermaßen gerecht zu werden und bietet ein umfangreiches Spektrum an Merkmalen und Leistungsmerkmalen. ZEISS EVO 50 ist mit seinen fortschrittlichen automatisierten Funktionen, der hochwertigen Bildgebung und der umfangreichen Zubehörsuite ein wertvolles Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure.
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