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ZEISS EVO 50
ID: 9378143
Scanning Electron Microscope (SEM) With OXFORD EDX.
ZEISS EVO 50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das innovative Funktionen mit benutzerfreundlicher Bedienung kombiniert. Optische und elektronische Bildgebungsfunktionen machen EVO 50 ideal für viele Anwendungen geeignet, von der Materialwissenschaft über Metallographie bis hin zur Nanotechnologie und Compliance. Mit ZEISS renommiertem Design entwickelt, verfügt ZEISS EVO 50 über den Komfort einer ergonomischen Benutzeroberfläche, leistungsfähige Analysesoftware und hochauflösende Geräte, um detaillierte Bildgebung für genaue Quantifizierung und Analyse von Proben zu liefern. Dieses SEM ist mit einem Everhart-Thornley SE Detektor mit Coinourne Detection Imaging (CDI) für den gleichzeitigen Betrieb von Sekundär- und Rückstreuelektronen ausgestattet. Das hochmoderne Design von EVO 50 umfasst motorisierte Objektive, eine Anhänger-Anzeigetafel für Freisprecheinrichtung und eine integrierte Steuereinheit für Bedien- und Steuerfunktionen. Ein automatisiertes Probenaustauschsystem ermöglicht es Benutzern, schnell zwischen den vier verfügbaren Probenhaltern zu wechseln, wodurch Forscher mit minimalem Aufwand schnelle Änderungen an ihren bildgebenden Parametern vornehmen können. ZEISS EVO 50 bietet ein erweitertes Sichtfeld für eine umfassende Abdeckung von Proben und ermöglicht es Anwendern, quantitative Messungen und 3D-Analysen durchzuführen. Mit einem integrierten energiedispersiven Röntgenspektrometer (EDX) wird die Zusammensetzung der Proben identifiziert und elementare Karten erzeugt. Der integrierte Gitterdetektor ermöglicht detaillierte kristalline Analysen von Proben. Mit seiner integrierten Software ermöglicht EVO 50 es Benutzern, Bilder zu erfassen, Analyseberichte zu erstellen und Einstellungen zu steuern. Darüber hinaus stehen eine Reihe von Rekonstruktions- und Bildverarbeitungsfunktionen zur Verfügung, mit denen Benutzer eine automatisierte Bildanalyse durchführen können. Darüber hinaus kann die Software Daten für die langfristige Archivierung und gemeinsame Nutzung von Daten speichern. Zusammenfassend ist ZEISS EVO 50 ein sehr vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das für Bereiche wie Materialwissenschaft und Nanotechnologie entwickelt wurde. Es bietet Anwendern erweiterte Bildverarbeitungsfunktionen, eine intuitive Benutzeroberfläche und eine ausgeklügelte Bildanalyse- und Analysesoftware für maximale Leistung.
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