Gebraucht ZEISS EVO 50H #82084 zu verkaufen

ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope (SEM) ist eine leistungsstarke, kostengünstige Lösung zur Bildgebung, Messung und Analyse kleiner Partikel bei hoher Vergrößerung. Es ist mit zwei energiedispersiven Röntgenspektrometern (EDS) ausgestattet, die eine simultane Analyse der elementaren Zusammensetzung in einem einzigen Scan ermöglichen. EVO 50H hat auch die Fähigkeit, die Partikelgröße und -form selbst kleinster Partikel über eine Vielzahl von Vergrößerungen automatisch zu erfassen und zu messen. Zusätzlich zu seiner verbesserten Leistung ist ZEISS EVO 50H einfach zu bedienen, mit intuitiven und programmierbaren Bedienelementen, so dass es sowohl für erfahrene als auch für Anfänger geeignet ist. Seine intuitive Benutzeroberfläche für den Aufbau und die Analyse von Proben ist für den Einsatz mit Multifunktions- und Multimedia-Interaktionen optimiert, um eine effiziente Probenanalyse zu unterstützen. Die erweiterten Funktionen von EVO 50H umfassen eine große Kammer, die eine einfache Probenmanipulation, fortschrittliche Bildgebungstechniken wie Ptychographie und Mapping sowie eine automatisierte Bildverarbeitung ermöglicht. Seine fortschrittliche Technologie umfasst eine hochauflösende hochauflösende Kamera, gekoppelt mit einer motorisierten Bühne, die eine schnelle und genaue Bilderfassung und Beispielnavigation ermöglicht. Darüber hinaus umfasst ZEISS EVO 50H auch erweiterte Mustermanipulationsfunktionen wie motorisierte und Autofokus-Fähigkeit, die eine schnelle, sichere und genaue Probenbewegung ermöglichen. Schließlich verfügt EVO 50H über Software-Tools zum Verwalten und Analysieren von Daten und bietet Benutzern die Möglichkeit, qualitativ hochwertige Bilder und Datensätze für die Analyse zu generieren. Alle Datenanalysen werden in ZEISS EVO 50H gespeichert, sodass keine externe Datenspeicherung erforderlich ist und ein effizienter Datenvergleich möglich ist. Darüber hinaus bietet EVO 50H eine Vielzahl von Nachbearbeitungsoptionen und Bildanalyseprogrammen, die eine effiziente Probencharakterisierung ermöglichen. Zusammenfassend bietet ZEISS EVO 50H Scanning Electron Microscope Anwendern ein fortschrittliches, zuverlässiges und kostengünstiges Werkzeug zur Bildgebung, Messung und Analyse kleiner Partikel für eine Vielzahl von Anwendungen. Seine intuitive Benutzeroberfläche, fortschrittliche Bildgebungstechniken, Auto-Fokus und Muster-Manipulationsfunktionen, gepaart mit umfassenden Software-Tools, bieten erfahrenen und Anfängern eine umfassende SEM-Lösung.