Gebraucht ZEISS EVO 60 XVP #293636307 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 293636307
Scanning Electron Microscope (SEM)
Variable Pressure SE Detector (VPSE)
Wedge
QBSD
Power supply: 30 kV.
ZEISS EVO 60 XVP ist ein High-End-Rasterelektronenmikroskop (SEM) mit einzigartigen Funktionen, die eine breite Palette von Funktionen ermöglichen. Die Vakuumkammer, die Säule und andere Komponenten sind alle für ein hochstabiles Vakuum ausgelegt und erzeugen Bilder mit hervorragender Auflösung, Klarheit und Detailtiefe. EVO 60 XVP nutzt die Schottky Field Emission Source (FEG) für hervorragende Leistung bei niedriger Beschleunigungsspannung. Dieses extrem stabile FEG sorgt für eine lange Lebensdauer des Mikroskops und ermöglicht es, hochauflösende Bilder mit geringem Rauschen zu erstellen, was es ideal für die Abbildung von allen Mikrostrukturen bis hin zu Nanostrukturen macht. ZEISS EVO 60 XVP ist mit einer fortschrittlichen Digitalkamera mit einer Auflösung von 29 Megapixeln ausgestattet. Indem Sie Bilder sehr detailliert aufnehmen, kann sie Feinheiten auch bei niedrigen Vergrößerungen zeigen. Das fortschrittliche Elektronikpaket ermöglicht es dem System, Vollbildbilder im Hochgeschwindigkeits-Scanmodus ohne Verzerrung zu erfassen, sodass Benutzer das Beste aus den Fähigkeiten des Mikroskops herausholen können. EVO 60 XVP ist für maximale Vielseitigkeit ausgelegt. Es bietet eine Reihe von Zubehör, darunter eine Vielzahl von Objektivlinsenoptionen, eine Reihe von Gasdetektoren und eine Reihe von Probenhaltern, die eine standardmäßige Bildgebung und Testeinstellungen ermöglichen. Es bietet auch eine Vielzahl von zusätzlichen Funktionen für spezielle Anwendungen, einschließlich Remote-Bildgebung, Replik-Bildgebung und leitfähige Modus-Bildgebung. ZEISS EVO 60 XVP bietet außergewöhnlichen Wert und Leistung, mit einem breiten Spektrum an Funktionen, einer hohen Auflösung und hervorragender Stabilität. Es ist die perfekte Wahl für eine Vielzahl von industriellen und akademischen Anwendungen, von Forschung und Entwicklung bis hin zur Materialcharakterisierung und Fehleranalyse.
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