Gebraucht ZEISS EVO MA10 #9377691 zu verkaufen

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ID: 9377691
Scanning Electron Microscope (SEM) 5-Axis controller Turbine molecular pump X-Y Sample table travel Optical system: Light wire source Automatic electronic gun Automatic centering Manual and automatic focus function 3-Stage lights Acceleration: 0.2-30kV, 10 V Electron beam displacement: ±20 pm Magnification: 7-1,000,000x Resolution: 3.0 nm at 30 kV 3.5 nm at 30 kV Probe current range: 0.5 pA - 5 pA True empty system: Air pump: Scroll moduler Mechanical True space: Better than 2x10^-4 Pa Range: 10 Pa-133 Pa Pumping time: <3 minutes Sample room type: Rigidity, round, thick wall, sample Sample room inner size: 310mm(p) x 220mm Diameter: 230mm Height: 100mm Maximum weight allowable: not less than 5kg Sample table moving mode: 5 axis Sample table moving range: X=80mm, Y=100mm, Z=35mm, T=-10°-90°, R=360°,Z-35mm, T=-10°-90°, R=360° X-ray analysis conditions: Exit angle 35 degrees Analysis working distances: 8.5-20mm Detection imaging system Air two time electronic detector Back scattering electronic detector with line spectrometer interface Scanning mode: Full screen Selection Point Line scanning Linear profile Scanning rotation Tilt compensation Image resolution: 3072 x 2304 pixels (maximum) Image control: Resolution mode Depth view of mode Analysis mode Field of view mode Operating system: Windows 7 Display: 24" TFT.
ZEISS EVO MA10 ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM) für Forschung und industrielle Anwendungen. Es verfügt über eine fortschrittliche Säulenkonstruktion, die eine verbesserte mechanische Stabilität und Vibrationsisolierung bietet und eine präzise Bildgebung gewährleistet. Das Instrument ist in der Lage, Bilder von Proben mit Auflösungen bis zu 1 nm zu erfassen und sehr detaillierte Submikron-Strukturen zu erfassen. Die reduzierte Beschleunigungsspannung von 0,2 bis 30 kV ermöglicht die Installation von High-End-Detektoren für die Weitbereichsspektrumanalyse von Röntgenstrahlen über rückgestreute Elektronen bis zur Abbildung großer Probenabdeckung mit Punktgenauigkeit. Darüber hinaus bietet der großzügige Arbeitsabstand (bis 194 mm) dem Anwender mehr Flexibilität bei der Bildgebung. Es hat eine große Kammeröffnung bei einem Durchmesser von 275mm, was ein weites Sichtfeld und damit mehrere Proben auf dem Gitter ermöglicht. Das SEM kommt mit Blickfeld, das leicht von 5 um x 5 um bis 1 mm x 1 mm eingestellt werden kann. Der High-Angle Annular Dark-Field (HAADF) Detektor und die einzigartige Kombination aus einer großen Field Emission Gun (FEG) und einer High-End-Elektronenkanone ermöglichen es dem Benutzer, auch kleinste Details aufzulösen, was eine verbesserte Bildgebungsleistung ergibt. Die schnellen Scangeschwindigkeiten und die Echtzeit-Bildmanipulationsfunktionen sorgen für ein rauscharmes, hochauflösendes Bild. Die Hardware- und Softwarekomponenten von ZEISS EVO MA 10 eignen sich gut für Anwendungen wie High-End-Forschung und Fehleranalyse. Zu den benutzerfreundlichen Softwarekomponenten gehören intuitive Bedienelemente, die Datenerfassung per Mausklick und die automatisierte Bildverbesserung. Automatisierte Bildanalyse und fortschrittliche Bildgebungstechnologien wie energiedispersive Spektroskopie und Elektronenrückstreubeugung bieten weitere Möglichkeiten zur komplexen Materialcharakterisierung. Das Instrument ist auch in der Lage, zerstörungsfreie Bildgebung durch in-situ Röntgenmikroanalyse. Abschließend ist EVO MA10 ein leistungsstarkes, kompaktes und genaues Rasterelektronenmikroskop, das eine überlegene Auflösung und Leistung bietet. Es bietet eine breite Palette von Bildverarbeitungsmodi sowie automatisierte Bildanalysefunktionen für Fehleranalysen und andere Forschungsanwendungen. Die einfache Bedienung, die Flexibilität sowie die Vielseitigkeit, kleine oder große Samples abbilden zu können, machen es zu einem der führenden SEMs, die heute verfügbar sind.
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