Gebraucht ZEISS / GEMINI Supra 55 DCG-Z #9260646 zu verkaufen

ZEISS/GEMINI Supra 55 DCG-Z Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur hochauflösenden Bildgebung und Analyse von Oberflächenmerkmalen von Materialien. Dieses Gerät verfügt über eine variable Druckkammer und eine super feine Optik, die eine hochauflösende SEM-Bildgebung bietet, die komplizierte Details der Probenoberfläche aufzeigen kann. Es bietet eine beeindruckende Schärfentiefe und Schärfentiefe und kann feine Unterschiede in Höhe und Kontrast unterscheiden. Dieses System eignet sich für eine Reihe von Anwendungen und Branchen wie Metallographie, Werkstoffwissenschaft, Nanotechnologie und Halbleiterforschung. ZEISS Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope ist mit einem großen Sichtfeld und einer hohen Abtastrate ausgestattet und eignet sich somit für eine Reihe von Anwendungen, die eine schnelle, genaue Bildgebung und Analyse erfordern. Seine hohe Effizienz, Auflösung und räumliche Auflösung verbessert die Leistung des Geräts bei weitem. Diese Maschine ist auch mit konfokalen bildgebenden Werkzeugen und Kontrastverbesserungsfunktionen ausgestattet, die eine noch detailliertere Abbildung von Proben ermöglichen. Diese Anlage verfügt über eine Feldemissionskanone, die überlegene Bildgebung und Genauigkeit gegenüber Standard-SEM-Technologien bietet. Seine variable Druckkammer bietet auch eine optimale Leistung, so dass es hochauflösende Bildgebung überwachen und aufrechterhalten kann. Mit seiner mikro-fokussierten Pistole kann es einzelne Partikel und Merkmale an derselben Probe genau identifizieren und unterscheiden. GEMINI Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope ist ein vielseitiges Modell, das in hohem Maße an die Bedürfnisse des Benutzers angepasst werden kann. Es ist mit einer Reihe von Detektoren ausgestattet, die zur Verbesserung des bildgebenden Prozesses und der Genauigkeit verwendet werden können, einschließlich eines kombinierten EDX/WDX-Detektors, EDS-Detektors und Everhart-Thornley-Detektors. Es hat auch eine Reihe von automatisierten Prozessstufen, wie Probenstufe, Objektivlinsensteuerung und Abbildungssteuerung. Diese Eigenschaften, gepaart mit seiner benutzerfreundlichen Schnittstelle und einer Reihe von Probenhaltern, machen das Supra 55 DCG-Z Scanning Electron Microscope zu einer idealen Ausrüstung für Labor- und Industrieforschung. Als Allzweck-Bildgebungswerkzeug ist dieses System eine ausgezeichnete Wahl für hochauflösende SEM-Bildgebung. Es verfügt über überlegene Genauigkeit und Bildklarheit, so dass es komplizierte Details der Probenoberfläche erfassen und analysieren kann, mit überlegener Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit.