Gebraucht ZEISS LEO 1530 #9286929 zu verkaufen

ZEISS LEO 1530 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Analyse und Charakterisierung einer Vielzahl von Materialien mit extrem hoher Auflösung und Empfindlichkeit. LEO 1530 SEM ist mit einem fortschrittlichen 10MV-Generator ausgestattet, der mit einem optimierten Kondensatorlinsensystem arbeitet, um einen optimalen Elektronenstrahl für hochauflösende Bildgebung und Messungen zu erzeugen. ZEISS LEO 1530 umfasst auch fortgeschrittene Sekundär- und Rückstreudetektoren, die qualitativ hochwertige Bilder und Messungen selbst anspruchsvollster Proben erzeugen. LEO 1530 nutzt eine fortschrittliche Stufe für die Probenabtastung mit bis zu 12 Achsen motorisierter Bewegung für eine präzise Positionskontrolle. Dies ermöglicht die Untersuchung von 3D-Merkmalen von Materialien mit höchster räumlicher Auflösung sowie Mustern von großflächigen Merkmalen mit hoher Empfindlichkeit. ZEISS LEO 1530 kann sogar Analysen und Messungen von Zellen und biologischen Materialien bereitstellen, mit der Implementierung einer energiefilterten rückgestreuten Elektronentechnologie. Zusätzlich kann LEO 1530 gegebenenfalls mit einem energiedispersiven Spektrometer (EDS) zur Zusammensetzungsanalyse verbunden werden. Das EDS eignet sich hervorragend zur Bestimmung der Atomprozentsätze der in der Probe vorhandenen Elemente sowie zur Bestimmung ihrer Verteilung. ZEISS LEO 1530 ist auch zur sekundären Elektronenbildgebung sowie zur rückgestreuten Elektronenbildgebung fähig und kann zur weiteren Analyse mit einem Röntgenspektrometer ausgestattet werden. Abschließend ist LEO 1530 ein äußerst vielseitiges Charakterisierungsinstrument für viele verschiedene Arten von Materialien. Es ist mit einem fortschrittlichen 10MV-Generator, einer motorisierten Bühne und einem optionalen EDS und Röntgenspektrometer für die kompositorische Analyse ausgestattet. Mit seiner hochauflösenden Bildgebung und leistungsstarken Detektoren ist der LEO perfekt für alle bildgebenden, messenden und analytischen Anforderungen.