Gebraucht ZEISS LEO 1560 #293823838 zu verkaufen

ZEISS LEO 1560 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das die Analyse von Proben im Nanometermaßstab erleichtert. Es verfügt über eine beeindruckende Systemauflösung von bis zu 1 Nanometer und eine hochwertige Vergrößerung bis zu 270,000X. Die hochauflösende und kontrastreiche Bildgebung ermöglicht es dem Anwender, Oberflächenstrukturen und Morphologien sehr detailliert zu beobachten. Das SEM ist mit einer 100 mm langen Säule mit einer einzigartigen großflächigen Feldemissionsquelle (LAFE) ausgestattet, die einen außergewöhnlich stabilen und hellen Elektronenstrahl für die beste Auflösung liefert. Die hohe Helligkeit und die geringe Elektronenstrahlgröße ermöglichen es Benutzern, Proben mit sehr hohen Details abzubilden, so dass es ideal für die Analyse von Funktionen kleiner als ein Mikrometer ist. Es unterstützt auch ein automatisiertes Bilderfassungssystem, das es dem Benutzer ermöglicht, das Instrument ohne Benutzereingriff einzurichten und zu steuern. LEO 1560 SEM verfügt über eine Vielzahl integrierter Bildgebungsfunktionen. Dazu gehören der Sekundär- und Rückstreuelektronenbildkontrast, kombiniert mit anderen Nachbearbeitungstechniken wie Bildregistrierung, Oberflächenabhebung und Bildverbesserung für höchste Qualität. Es unterstützt auch Elementaranalysen zur Materialcharakterisierung und Elektronenrückstreuung (EBSD) zur Phasenidentifizierung. Zusätzlich zu den bildgebenden Merkmalen verfügt das Instrument über ein Wafer-Automatisierungssystem, das die kryogene Probenbeladung und die automatisierte Ausrichtung von Proben unterstützt und eine hohe Durchsatzprobenverarbeitung ermöglicht. Es wird auch mit einem motorisierten Z-Antrieb geliefert, der eine schnelle und genaue Navigation der Probe in Z-Achsenrichtung ermöglicht. Insgesamt ist ZEISS LEO 1560 ein beeindruckendes Instrument für die Rasterelektronenmikroskopie mit Funktionen, die nicht nur die höchste Bildqualität und Auflösung bieten, sondern auch den Probendurchsatz beschleunigen. Sein breites Leistungsspektrum macht es zum perfekten SEM für Anwendungen wie Materialcharakterisierung, Analyse der Oberflächenmorphologie und Inspektion integrierter Schaltungen.