Gebraucht ZEISS / LEO EVO 50 #9261330 zu verkaufen

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ID: 9261330
Weinlese: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) Drying accessories PC Computer Monitors Operating system: Windows XP Detectors: Secondary electron Backscatter Operating voltage: 1-20 kV 2008 vintage.
ZEISS/LEO EVO 50 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM) für Hochleistungsbildgebung und -analyse. Es enthält eine Reihe von Funktionen, um zuverlässige und genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Erstens kann LEO EVO 50 sowohl für bildgebende als auch analytische Zwecke verwendet werden. Die bildgebende Auflösung liegt bei 1,2 nm, mit einer 450x450 mm runden Kammer und einem möglichst hohen Signal-Rausch-Verhältnis. Das analytische Spektrum umfasst Elementaranalysen (EDS/EDX) und Linienscans sowie Phasenverschiebung, Differentialschnecke und rückstreuende Spektroskopien (BSE). Alle diese Techniken können auf der gleichen Probe kombiniert werden, so dass detaillierte multinukleare Untersuchungen möglich sind. Zweitens enthält ZEISS EVO 50 erweiterte Automatisierungsfunktionen, um die Benutzerfreundlichkeit zu verbessern. Das automatische Laden und Verfolgen von Proben bietet Benutzern die Möglichkeit, ihre Probe aus der Ferne auf dem Mikroskop zu überwachen. Dann arbeitet die Drift- und Fokuskorrekturfunktion, um die Probe während der Bildgebung und Analyse im Fokus zu halten und die Datengenauigkeit und -genauigkeit zu unterstützen. Darüber hinaus bietet der Kaschierabbaumodus, kombiniert mit einer großen Probenkammer, Platz für Hochdurchsatz-Probenbelastung und gleichzeitige Akquisitionen. Nicht zuletzt bietet EVO 50 kontrastreiche Bildgebungsfunktionen, die es Anwendern ermöglichen, detailreiche Bilder von Proben zu erzeugen. Der Argon-Ionen-Kondensator kann verwendet werden, um Energy Dispersive System (EDS) Artefakte zu reduzieren und verbessert die Bildqualität. Mit der „nicht-genikulären“ projizierten Knock-On-Technologie können Benutzer Datensätze aus dem gleichen oder unterschiedlichen Blickwinkel erhalten, um maximale Datentreue zu gewährleisten. Abschließend wurde das Rasterelektronenmikroskop ZEISS/LEO EVO 50 entwickelt, um die höchsten Anforderungen an eine zuverlässige, genaue und wiederholbare Bildgebung und Analyse zu erfüllen. Es enthält erweiterte Automatisierungsfunktionen sowie kontrastreiche Bildgebungsfunktionen, um Anwendern alle Werkzeuge zur Verfügung zu stellen, die sie benötigen, um detaillierte Ergebnisse zu erhalten.
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