Gebraucht ZEISS Sigma #9316549 zu verkaufen

ZEISS Sigma ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das hochauflösende Bildgebungs- und Analysefähigkeiten bietet. Das SEM wird verwendet, um physikalische Eigenschaften von Materialien auf der Nano- bis Mikroskala zu analysieren, einschließlich Topologie, Zusammensetzung, Kristallinität und Mikrostruktur. Sigma verfügt über einen In-Linsen-Energie-dispersiven Röntgendetektor (EDS), der die Möglichkeit bietet, die elementare Zusammensetzung von Materialien zu identifizieren. Dies ermöglicht die elementare und chemische Kartierung von Proben, gibt Einblick in ihre Komponentenmaterialien und korreliert mit komplexen physikalischen Eigenschaften. ZEISS Sigma bietet hochauflösende Bildgebung bis zu 1 nm, so dass Benutzer Details bisher nicht auflösen können. Seine verbesserte Auflösung wird mit einem In-Linsen-Elektronenoptik-Design erreicht, das Aberrationen reduziert und zu schärferen Bildern führt, da mehr Elektronen auf die Probe fokussiert werden. Das SEM bietet automatisierte Funktionen wie automatisiertes Scannen und Autofokus. Autofokus wird bei der Betrachtung von Proben verschiedener Dicken benötigt, da die Elektronenlinse eine Anpassung erfordert, um das resultierende Bild zu fokussieren. Die automatische Scanfunktion ermöglicht die automatische Erfassung mehrerer Bilder in festgelegten Zeitintervallen, wodurch der Zeitaufwand für die Probenuntersuchung reduziert und der Fokus auf die Bildinterpretation verschoben wird. Darüber hinaus bietet Sigma Neigungs- und Drehbewegungsfunktionen für die Betrachtung von Proben aus mehreren Winkeln. Die Neigungsfähigkeit ist besonders nützlich für die Materialcharakterisierung, da sie es dem Anwender ermöglicht, dreidimensionale Effekte wie die Ausrichtung der Kristallstruktur zu berücksichtigen und die Interpretation von Daten im Nano- und Mikromaßstab zu ermöglichen. Die Benutzeroberfläche von ZEISS Sigma ist mit intuitiver Bedienung und anpassbaren Einstellungen konzipiert, wodurch es einfach und einfach zu bedienen ist. Ferner kann das Mikroskop zur Speicherung und Manipulation von Daten an einen Personalcomputer angeschlossen werden. Dies macht die gemeinsame Nutzung und Archivierung von Daten einfach und effizient. Insgesamt ist Sigma ein ausgezeichnetes und fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop. Seine überlegene Auflösung, automatisierte Bedienung und intuitive Benutzeroberfläche machen es zu einem idealen Werkzeug für die Charakterisierung und Analyse von Materialien.