Gebraucht ZEISS Ultra 55 #293687399 zu verkaufen

ID: 293687399
Weinlese: 2009
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM) Non-functional Detectors: (2) In‐Lens Secondary Electrons (SE) Backscatter electron Everhart‐Thornley SE Angle Selective Backscatter (ASB) Energy Selective Backscatter (ESB) OXFORD INSTRUMENTS INCA 350 EDS OXFORD INSTRUMENTS EBSD Beam energy: 100 V to 8 kV GATAN MiniCL System IR Chamberscope 2009 vintage.
ZEISS Ultra 55 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und extrem präzise Messungen an einer Vielzahl von Proben zu erzeugen. Es ist ein effektives Laborinstrument, das es Anwendern ermöglicht, Materialien mit Nanometergenauigkeit zu beobachten, zu messen und zu analysieren. Ultra 55 ist ein digitales Bildgebungs- und Analysegerät, das variablen Druck und konventionellen Elektronenmikroskopie-Modus kombiniert. Es kann verwendet werden, um großflächige Proben im variablen Druckmodus zu beobachten, was den Oberflächenbeladungseffekt verringert. Das Instrument eignet sich zur Abbildung von industriellen und forschungstechnischen Halbleiterscheiben und anderen Geräten wie MEMS, Biosensoren und Unterhaltungselektronik. Der Halbleitermodus und die automatische Optimierung der Beschleunigungsspannung und des Arbeitsabstandes bieten eine überlegene Bildqualität mit einer Auflösung von bis zu 0,7 nm. Das System ist mit der weltbekannten Twin-Objektiv-Technologie ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, hochauflösende Bildgebung in alle Richtungen durchzuführen. Darüber hinaus maximiert das fünfstufige Energiefilter das Signal-Rausch-Verhältnis, um Merkmalsmaße genau zu erkennen und zu messen. Die flexiblen Funktionen von ZEISS Ultra 55 machen es ideal für die Materialcharakterisierung. Die hochauflösenden bildgebenden und genauen Messungen eignen sich zur Untersuchung von Zusammensetzung, Oberflächentopographie, Defektmesstechnik und anderen Merkmalen unterschiedlichster Materialien. Die nanoskaligen Fähigkeiten des Instruments machen es perfekt für die Benchmarking der Lithographie-Leistung von Materialien. Die intuitive Benutzeroberfläche des Instruments bietet Verknüpfungen zu vordefinierten Funktionen. Darüber hinaus ist die Einheit in der Lage, eine automatisierte Bilderfassung durchzuführen, die die Aufnahme von Bildern mit einem einzigen Befehl ermöglicht. Das einzigartige Design von Ultra 55 kombiniert analytische und bildgebende Funktionen zu einem einzigen Paket zur effizienten und präzisen Charakterisierung von Materialien. Diese Maschine eignet sich für Forschungs- und Industriemärkte und kann für noch mehr Fähigkeiten problemlos mit anderen Instrumenten kombiniert werden.
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