Gebraucht ZEISS Ultra 55 #9194483 zu verkaufen
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Verkauft
ID: 9194483
Scanning electron microscope (SEM)
High resolution mode: 20nA
Oil free pumping system: XDS10 (220-240V)
Operating system: Windows with keyboard
Control panel USB
US Vers with firmware
Flange kit: 4QBSD, 55 / 55VP / UltraPlus
Airlock programed, 80mm
(3) Multiple single stub holder 4
Multi-purpose sample holder
Faraday cup
USB Dongle
X-Ray / External scan input panel kit
Flat panel TFT color monitor, 19"
Mechanical adapter: BRUKER AXS Detectors
Air compressor with auto drain
THERMOCUBE 400 W, 3 lpm Gear chiller
AVI-400 Extra MP active vibration isolation
Field view: Fibics atlas
EVO Hi-res imaging for FESEM
LCD TFT Monitor: HP ZR2440w
Shuttle / Find EM
AV4 Mod LM-EM Site Lic.
ZEISS Ultra 55 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das in der Lage ist, hochauflösende Bilder und extrem präzise Messungen an einer Vielzahl von Proben zu erzeugen. Es ist ein effektives Laborinstrument, das es Anwendern ermöglicht, Materialien mit Nanometergenauigkeit zu beobachten, zu messen und zu analysieren. Ultra 55 ist ein digitales Bildgebungs- und Analysegerät, das variablen Druck und konventionellen Elektronenmikroskopie-Modus kombiniert. Es kann verwendet werden, um großflächige Proben im variablen Druckmodus zu beobachten, was den Oberflächenbeladungseffekt verringert. Das Instrument eignet sich zur Abbildung von industriellen und forschungstechnischen Halbleiterscheiben und anderen Geräten wie MEMS, Biosensoren und Unterhaltungselektronik. Der Halbleitermodus und die automatische Optimierung der Beschleunigungsspannung und des Arbeitsabstandes bieten eine überlegene Bildqualität mit einer Auflösung von bis zu 0,7 nm. Das System ist mit der weltbekannten Twin-Objektiv-Technologie ausgestattet, die es dem Anwender ermöglicht, hochauflösende Bildgebung in alle Richtungen durchzuführen. Darüber hinaus maximiert das fünfstufige Energiefilter das Signal-Rausch-Verhältnis, um Merkmalsmaße genau zu erkennen und zu messen. Die flexiblen Funktionen von ZEISS Ultra 55 machen es ideal für die Materialcharakterisierung. Die hochauflösenden bildgebenden und genauen Messungen eignen sich zur Untersuchung von Zusammensetzung, Oberflächentopographie, Defektmesstechnik und anderen Merkmalen unterschiedlichster Materialien. Die nanoskaligen Fähigkeiten des Instruments machen es perfekt für die Benchmarking der Lithographie-Leistung von Materialien. Die intuitive Benutzeroberfläche des Instruments bietet Verknüpfungen zu vordefinierten Funktionen. Darüber hinaus ist die Einheit in der Lage, eine automatisierte Bilderfassung durchzuführen, die die Aufnahme von Bildern mit einem einzigen Befehl ermöglicht. Das einzigartige Design von Ultra 55 kombiniert analytische und bildgebende Funktionen zu einem einzigen Paket zur effizienten und präzisen Charakterisierung von Materialien. Diese Maschine eignet sich für Forschungs- und Industriemärkte und kann für noch mehr Fähigkeiten problemlos mit anderen Instrumenten kombiniert werden.
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