Gebraucht ZEISS Ultra Plus #9028799 zu verkaufen

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ID: 9028799
FE SEM 0.1 to 30 keV electron beam to image the surface of a sample in high vacuum Edge resolutions down to 1 nanometer at 15 keV and 1.7 nm at 1 keV Detectors available: Inlens SE, Everhart-Thornley SE-BSE EsB (inlens Energy selective Backscattered electron detector) STEM (Scanning Transmission Electron detector) 80 mm airlock for sample exchange Charge Compensation (CC) system: Places a gas needle close to the sample for localized gas (N2) injection to reduce charging CC system reduces the skirt effects observed in traditional variable pressure systems and the normal SE detectors (Inlens and Everhart-Thornley) can be used.
ZEISS Ultra Plus ist ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop (SEM), mit dem die Struktur von Materialien in sehr hoher Auflösung beobachtet werden kann. Dieses Gerät verfügt über eine Hochleistungs-Elektronensäule, die eine Auflösung von mehr als 5 Nanometern ermöglicht. Die Elektronensäule ist mit einer ZEISS-Feldemissionskanone gekoppelt, die eine geringe Elektronenemission und eine ausgezeichnete Stabilität bietet. Dieses System verfügt auch über Mikro-Spot-Technologie, ideal für die Abbildung der Struktur von organischen Materialien und einen hochauflösenden großflächigen rückgestreuten Elektronendetektor. Ultra Plus ermöglicht es Benutzern, die besten Betriebsbedingungen schnell und präzise auszuwählen und eignet sich hervorragend für nanostrukturierte Anwendungen. Neben hochauflösenden bildgebenden Funktionen bietet ZEISS Ultra Plus auch Optionsmodule für Elektronenstrahl-Lithographie und In-situ-Heizung an, die Anwendern eine elektrische, chemische und thermische Kontrolle für Studien zur Wasserstoffversprödung, Korrosion, Oxidation und anderen Materialeigenschaften bieten können. Darüber hinaus verfügt das Gerät über ein integriertes Spektroskopiemodul, das für die energiedispersive Röntgenspektrometrie und Elektronenenergieverlustspektrometrie eingesetzt werden kann. Dieses Spektroskopiemodul eignet sich besonders zur Untersuchung der Zusammensetzung von Materialien. Schließlich verfügt Ultra Plus über eine robuste Hardware- und Softwareplattform, die automatisierte Ausrichtung, Driftkorrektur und fortschrittliche Bildverarbeitungstechniken umfasst, um Arbeitsabläufe für maximale Effizienz zu optimieren. Darüber hinaus kann das Gerät ferngesteuert werden, so dass Remote-Kooperationen oder Fernzugriff auf Daten möglich sind. ZEISS Ultra Plus enthält auch eine Probenladeeinheit, eine In-Objektiv-Detektormaschine und eine Sub-Mikron-Nähfähigkeit. Zusammen ermöglichen diese Funktionen den Anwendern die einfache Vorbereitung und Beobachtung von Materialien mit einer Vielzahl von bildgebenden Techniken. Zum Abschluss ist Ultra Plus ein fortschrittliches Rasterelektronenmikroskop, das hochauflösende Bildgebung, In-situ-Heizung und Lithographie, Spektroskopie, Automatisierung und ein einzigartiges Hardware-Setup bietet und ideal für nanostrukturelle Bildgebung und Analyse ist. ZEISS Ultra Plus ist eine ausgezeichnete Wahl für Forscher und Ingenieure, die nach einem robusten und leistungsstarken SEM-Tool suchen.
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