Gebraucht ZHUHAI BOJAY BJ-7800 #9244225 zu verkaufen

ZHUHAI BOJAY BJ-7800 Scanning Electron Microscope (SEM) ist ein leistungsstarkes Instrument zur Untersuchung der Struktur und Eigenschaften verschiedener Materialien bei hohen Vergrößerungen. BJ-7800 verfügt über eine beeindruckende Auflösung von 3,0nm und eine Beschleunigungsspannung von bis zu 45kV, was es für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet macht. Es kommt auch mit einem beeindruckenden Array von Abbildungsmodi, einschließlich Sekundärelektronen (SE), rückgestreuten Elektronen (BSE) und Kathodolumineszenz (CL). Diese Modi können kombiniert werden, um detaillierte Bilder sowohl von strukturellen Merkmalen als auch von Zusammensetzung von Materialien bereitzustellen. ZHUHAI BOJAY BJ-7800 kommt mit einer Standard-Probenkammergröße von 100mm X 200mm. Sein modularer Aufbau ermöglicht die Ergänzung verschiedener Analysemöglichkeiten, wie Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlustspektrometrie (EELS). Für die Untersuchung spezifischer Elemente oder Verbindungen verfügt das Mikroskop auch über ein eingebautes Energiefiltermikroskop (EFM) -Modul. Mit diesem Modul kann der Benutzer die interessierenden Elemente selektiv analysieren. Das Vakuumsystem von BJ-7800 soll die Probe vor Schäden durch Luft oder Feuchtigkeit bewahren. Das Mikroskop ist mit einem fortschrittlichen Turbopumpsystem für eine schnelle Evakuierung der Probenkammer ausgestattet, so dass Benutzer ihre Experimente in kürzeren Zeiträumen durchführen können. Es kommt auch mit einer unabhängigen Turbopumpe für das EFM-Modul, für eine schnellere Evakuierung bei der Analyse mehrerer Elemente auf einmal. ZHUHAI BOJAY BJ-7800 verfügt über eine robuste digitale Schnittstelle, um es an externe PCs anzuschließen, was seine Nützlichkeit für die Datenanalyse weiter erhöht. Die Mikroskopsoftware umfasst ein automatisiertes Bildmakro zum schnellen Scannen einer großflächigen Probe sowie eine Reihe von Analysen und Anwendungen zur Analyse von Bilddaten. Das Mikroskop kann auch mit einem Drucker zum Drucken von Mikrographen verbunden sein. Insgesamt ist BJ-7800 Rasterelektronenmikroskop ein hervorragendes Werkzeug, um Struktur und Eigenschaften verschiedener Materialien bei hohen Vergrößerungen zu untersuchen. Das Instrument verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, von seinen fortschrittlichen Bildverarbeitungsmodi bis hin zu seinem Energiefiltermodul, die es für eine Reihe von wissenschaftlichen Forschungs- und industriellen Qualitätskontrollanwendungen geeignet machen.