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APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I
ID: 87628
Spectrometer.
APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I ist ein Röntgenphotoelektronenspektrometer (XPS) zur Oberflächenanalyse von Materialien und dünnen Filmen. Das Gerät arbeitet, indem es einen Röntgenstrahl über die Probenoberfläche abtastet und die resultierenden Photoelektronen, die von der Oberfläche emittiert werden, misst und wertvolle Informationen über die Oberflächenzusammensetzung sowie chemische und physikalische Struktur liefert. Die strukturelle Vielseitigkeit und fortschrittliche Datenerfassung von Pulsar I ermöglicht es, Daten in einer Reihe von experimentellen Formaten und Umgebungen zu erfassen, vom Ultrahochvakuum bis zu erhöhten Drücken und Temperaturen. APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I kombiniert ein leistungsfähiges und vielseitiges μ m-Level-Scanning-System mit einer leistungsstarken oberflächenempfindlichen Röntgenquelle. Die Röntgenquelle ist in der Lage, energetisierte Röntgenstrahlen aus einer Vielzahl von Elementen zu erzeugen, von Wasserstoff über Uran, was eine maximale Flexibilität bei der Analyse einer Vielzahl verschiedener Materialzusammensetzungen ermöglicht. Die Abtasteinheit von Pulsar I ermöglicht ein seitliches Scannen mit einer Auflösung von bis zu 1 μ m und verwendet eine kleine Spotgröße (1,25 μ m), um Tiefeninformationen zu erhalten. Diese Abtastung ermöglicht die Messung der Oberflächen und tieferen Schichten einer Probe mit einer seitlichen und Tiefenauflösung von 1 μ m. APPLIED BIOSYSTEMS Pulsar I bietet auch hochauflösende Datenerfassung. Seine beeindruckende Energieauflösung ermöglicht es ihm, zwischen miniskulären Unterschieden in der Röntgenphotonenenergie verschiedener Elemente zu unterscheiden. Darüber hinaus verwendet die Maschine einen großflächigen Röntgendetektor, mit dem sie größere Proben unter Beibehaltung niedriger Elektronenzahlen messen kann, was das Signal-Rausch-Verhältnis verbessert. Die Kombination aus ausgezeichneter Energieauflösung und hoher Zählrate ermöglicht eine schnellere Datenerfassung und eine genauere Messung von dünnen Schichten oder anderen dünnen Probenstrukturen. Schließlich kommt das Tool auch mit einer Vielzahl von Datenanalyse-Optionen einschließlich Peak-Fitting und Dekonvolution, sowie die Fähigkeit, Ergebnisse für die weitere Analyse mit anderer Software exportieren. Dies bietet Forschern leistungsstarke Tools, um XPS-Daten schnell zu analysieren und zu interpretieren sowie die Ergebnisse zu visualisieren. Insgesamt ist Pulsar I ein fortschrittliches Spektrometer, das für die Oberflächenanalyse optimiert ist. Sein vielseitiges Design ermöglicht es ihm, eine Reihe von Proben in verschiedenen Umgebungen zu messen, und seine hochauflösenden Datenerfassungsfunktionen ermöglichen es ihm, präzise und genaue Daten aus der Probe zu gewinnen. Es ist das ideale Instrument zur Analyse von Oberflächen und dünnen Filmen, und seine große Auswahl an Datenanalysemöglichkeiten machen es einfach, wertvolle Informationen zu extrahieren.
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