Gebraucht ASOMA 200 ED–XRF #60499 zu verkaufen

Hersteller
ASOMA
Modell
200 ED–XRF
ID: 60499
Weinlese: 1996
Portable analyzer Operates: Battery or 110/220 VAC Analyzes: Up to 6 elements Calibrated for cassetterite ore (Tin ore) For constituents Sn, Nb, Ta, Fe Analysis cassetterite ore Source type: Radioisotope AM 241 Accuracy: Up to 10 ppm Typical analysis time / sample: 10-100 Seconds Analytic range: Aluminum (Atomic number 13) to uranium (Atomic number 92) Includes: Casseterite ores Standard samples Sample cups Currently stored in a cleanroom 1996 vintage.
Das ASOMA 200 ED-XRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) -Spektrometer ist ein Hochleistungs-Analysegerät, das für genaue und zuverlässige Messungen der elementaren Zusammensetzung entwickelt wurde. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Probentypen einschließlich Flüssigkeiten, Feststoffe, Filme und Beschichtungen. Das Spektrometer ist mit den neuesten Festkörperdetektoren und Elektronik ausgestattet, die eine schnelle und effiziente Datenerfassung ermöglichen. Das ED-XRF-Instrument besteht aus vier Hauptteilen: einer Röntgenquelle, einem Detektor, einer Elektronikkarte und einer Vakuumkammer. Die Röntgenquelle ist eine Röntgenröhre, die eine Emission von Röntgenstrahlen in einem ganz bestimmten Energiebereich ermöglicht. Die Quelle ist auf einem Bleigehäuse montiert, das unerwünschte Röntgenphotonen mit höherer Energie absorbiert. Die Art der verwendeten Röntgenquelle ist von der Anwendung abhängig, beispielsweise zur Messung des Tiefenprofils eines unbekannten Materials wird die Anregungsenergie durch eine Cr-Röntgenröhre bereitgestellt, und für Elementkonzentrationen wird die Energie üblicherweise durch eine Mo-Röntgenröhre bereitgestellt. Die von der Röntgenröhre erzeugten Röntgenpphotonen werden in die Probe geleitet. Da die Photonen mit der Probe interagieren, wird ein Teil der Energie absorbiert und die verbleibenden Photonen werden in einem charakteristischen Muster wieder emittiert. Dieses als Fluoreszenz bezeichnete Phänomen ist das Hauptbetriebsprinzip des ED-XRF-Spektrometers. Die Eigenschaften der von der Probe emittierten Fluoreszenz können dann mit einem Detektor gemessen werden. Der für ED-XRF übliche Detektor ist ein energiedispersiver Siliziumdetektor, der aus zwei Teilen besteht: einem Detektorkristall und einem Positionierarm. Der Detektorkristall besteht entweder aus Ge oder Si und ist am Arm angebracht. Die Position des Detektorkristalls kann eingestellt werden, um die Menge der in den Detektor eintretenden Röntgenphotonen zu verändern, wodurch der Benutzer die Messung je nach Anwendung optimieren kann. Der Detektorkristall ist über einen Verstärker mit der Elektronikplatine verbunden. Die Elektronikplatine ist für die Verstärkung und Verarbeitung des Signals des Detektors verantwortlich, wodurch die Messung der spektralen Eigenschaften der von der Probe emittierten Röntgenstrahlen ermöglicht wird. Schließlich ist das ED-XRF-Instrument in einer Vakuumkammer enthalten. Dies ist notwendig, um die Anzahl energiereicher Photonen zu reduzieren, da die Photonen mit höherer Energie schwieriger in das Vakuum eindringen. Dadurch wird sichergestellt, dass die Röntgenphotonen der Quelle mit der Probe interagieren und die Messungen des Geräts genau und zuverlässig sind. Das ASOMA 200 ED-XRF-Spektrometer ist ein Hochleistungs-Analysegerät, das in der Lage ist, genaue und zuverlässige Messungen der elementaren Zusammensetzung in verschiedenen Anwendungen durchzuführen. Es verwendet die neuesten Entwicklungen in der Röntgenquellen-, Detektor- und Elektroniktechnologie, die eine schnelle und effiziente Datenerfassung ermöglichen.
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