Gebraucht CAMECA IMS 4F / 5F #293799336 zu verkaufen

CAMECA IMS 4F/ 5F ist ein modernes sekundäres Ionen-Massenspektrometer (SIMS), das eine hohe Präzision und Empfindlichkeit für die Analyse der elementaren und isotopischen Zusammensetzung fester Proben bietet. Dieses fortschrittliche analytische Instrument ist für eine breite Palette von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Geologie, Umweltwissenschaft und Halbleiterforschung konzipiert. IMS 4F/ 5F kombiniert einen hochauflösenden magnetischen Sektor-Massenanalysator mit einem elektrostatischen Analysator mit hoher Transmission, um eine überlegene Leistung in Bezug auf Massenauflösung, Massengenauigkeit und Detektionsempfindlichkeit zu erzielen. Das Instrument ist in der Lage, eine Vielzahl von Elementen von leichten Elementen wie Wasserstoff und Lithium bis hin zu schweren Elementen wie Uran und Plutonium zu analysieren. Eines der Hauptmerkmale von CAMECA IMS 4F/ 5F ist seine Fähigkeit, isotopische Zusammensetzung mit extrem hoher Präzision zu analysieren. Dies wird durch die Verwendung eines energiereichen primären Ionenstrahls erreicht, der Atome von der Probenoberfläche zerstäubt und sekundäre Ionen erzeugt, die dann vom Massenspektrometer analysiert werden. Durch die Messung der relativen Fülle verschiedener Isotope eines Elements kann IMS 4F/ 5F Einblicke in die Geschichte und Herkunft einer Probe geben. CAMECA IMS 4F/ 5F ist mit fortschrittlichen Automatisierungs- und Datenverarbeitungsfunktionen ausgestattet, die eine Hochdurchsatzanalyse mehrerer Proben mit minimalem Benutzereingriff ermöglichen. Das Instrument kann Proben in einer Vielzahl von Formen analysieren, einschließlich dünner Filme, Schüttgüter und Nanopartikel, was es für verschiedene Forschungsanwendungen sehr vielseitig macht. Neben der elementaren und isotopischen Analyse kann IMS 4F/ 5F auch Informationen über die räumliche Verteilung von Elementen innerhalb einer Probe liefern. Durch die Rasterung des primären Ionenstrahls über die Probenoberfläche kann das Instrument hochauflösende elementare Bilder erzeugen, die die Verteilung verschiedener Elemente mit Submikron-Raumauflösung aufzeigen. CAMECA IMS 4F/ 5F ist auch mit einer Reihe von Ionenquellen und analytischen Modi ausgestattet, die eine vielseitige Analyse verschiedener Probentypen ermöglichen. Beispielsweise kann das Instrument Tiefenprofilierungen durchführen, um die Verteilung von Elementen in Abhängigkeit von der Tiefe in einem Material zu untersuchen, oder es kann Spurenelemente mit hoher Empfindlichkeit für Umwelt- und geologische Anwendungen analysieren. Insgesamt ist IMS 4F/ 5F ein hochmodernes sekundäres Ionenmassenspektrometer, das eine beispiellose Leistung in Bezug auf Präzision, Empfindlichkeit und Vielseitigkeit für die elementare und isotopische Analyse von festen Proben bietet. CAMECA IMS 4F/ 5F ist mit seinen fortschrittlichen analytischen Fähigkeiten und Automatisierungsfunktionen ein wertvolles Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler in einer Vielzahl von Bereichen wie Materialwissenschaft, Geologie, Umweltwissenschaft und Halbleiterforschung.