Gebraucht CAMECA IMS 4F #9210239 zu verkaufen

CAMECA IMS 4F ist ein sekundäres Ionenmassenspektrometer (SIMS), das die Zusammensetzung von Oberflächen und dünnen Schichten bis zu 100 Nanometern analysiert. Es ist mit einer 2,5 Kilovolt (kV) großen freien Ionenquelle, einem 4-Detektor-Massenseparator und einer Probenkammer ausgestattet, die die Analyse von Proben unter Ultrahochvakuum erleichtern soll. Die 2.5kV feldfreie Ionenquelle verwendet ein Lichtkollimationssystem, um gescannte bildgebende Ionen zu fokussieren und eine nahezu perfekte Verteilung der fokussierten Ionenstrahlen zu erreichen. Dies ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung mit einer Genauigkeit von ca. 1 Nanometer. Die Ionenquelle besteht aus vier Fokussierelektroden, die individuell eingestellt werden können, um den Abtastbereich und die Auflösung zu variieren. Der Vier-Detektor-Massenseparator besteht aus zwei Magneten, zwei Quadrupolstäben und einem Paar kombinierter Feldplatten. Diese Komponentenkombination ist in der Lage, die Masse-Ladung-Verhältnisse der aus der Probe extrahierten Ionen genau zu messen. Das Signal von jedem der vier Detektoren wird unabhängig gemessen und das kombinierte Signal in Gesamt-Ionenzählungen für jeden Masse-zu-Ladebereich umgewandelt. Die Probenkammer, die für ultrahoche Vakuumbedingungen ausgelegt ist, kann eine Vielzahl von Probentypen und Geometrien aufnehmen und eignet sich gut zur Analyse der Zusammensetzung von Oberflächen und dünnen Schichten. Für bildgebende Analysen wird die Probenkammer auf einer motorisierten dreidimensionalen Probenstufe montiert. Dies ermöglicht eine breite Palette von Probenhandhabung und Manipulation, einschließlich der Möglichkeit, große Bereiche der Probe schnell und genau zu scannen. Die Probenstufe wird durch ein integriertes Softwarepaket gesteuert, das Probendrehung, Neigung und Fokussierung steuern kann. CAMECA IMS4F ist in der Lage, eine Vielzahl von Analysen durchzuführen, einschließlich Tiefenprofilerstellung, isotopische Analysen, sekundäre Ionenbildgebung und Oberflächenzusammensetzungsanalyse. Diese leistungsstarke Kombination von Fähigkeiten gibt dem Anwender die Flexibilität, die Zusammensetzung von Oberflächen und dünnen Schichten kostengünstig und zuverlässig genau zu messen.