Gebraucht CAMECA IMS 4F #9250201 zu verkaufen

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Hersteller
CAMECA
Modell
IMS 4F
ID: 9250201
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) Multiple immersion lens strip Duoplasmatron and cesium source Charge auto compensation electron gun for insulator analysis Liquid nitrogen cooled fracture stage attachment Cryo pump vacuum system Dynamic transfer system Scanning ion image display Secondary imaging.
CAMECA IMS 4F-Spektrometer ist ein Multikollektor-Massenspektrometer für die hochräumige Bildgebung und Tiefenprofilierung von Dünnschichtmaterialien. Es ermöglicht eine genaue isotopische Charakterisierung von Materialien und kann verwendet werden, um hochauflösende 3Dmaps von Ablagerungen und Partikelverteilung auf der Oberfläche und in der Unterfläche einer Probe zu konstruieren. CAMECA IMS4F Ausrüstung ist ein Vier-Elemente-Sammlermassenspektrometer. Jeder Sammler enthält vier Filamente, die eine vollständige isotopische Charakterisierung der Probe ermöglichen. Die Anode jedes Kollektors ist als gekrümmter Schlitz ausgebildet und mit einem doppelten Differentialregler verbunden, der eine räumliche und zeitliche Steuerung des Ionenstrahls ermöglicht. Die Kollektoren sind orthogonal positioniert und können in unterschiedliche Positionen relativ zur Probenoberfläche bewegt werden. IMS-4F System ist sowohl zur externen als auch zur internen Ionenbildgebung in der Lage. Die externe Ionenbildgebung (EII) dient der Abbildung der Oberfläche einer Probe und ermöglicht eine isotopische Abbildung von Ablagerungen wie Verunreinigungen oder Verunreinigungen. Interne Ionenbildgebung (III) wird zur Abbildung der Unterfläche einer Probe verwendet, wodurch eine hochauflösende Tiefenprofilierung der Abscheidung oder Ionenimplantation ermöglicht wird. CAMECA IMS-4 F-Einheit ist mit mehreren Funktionen ausgestattet, die eine genaue Datenerfassung gewährleisten. Dazu gehören eine Bruker ICA-Optik, die eine hohe Ionenstromdichte ermöglicht, ein Merlin-Vorverstärker für hohes Signal-Rausch-Verhältnis und eine semi-intelligente Elektronikmaschine, die eine breite Palette von Filter- und Fokussierungsoptionen ermöglicht. IMS4F Werkzeug ist in der Lage, hochpräzise räumliche Auflösung. Es ist in der Lage, Partikel mit einer Größe von 0,3 Nanometern abzubilden. Diese Fähigkeit macht IMS 4F Asset ideal für die Abbildung von nanoskaligen Strukturen in Dünnschichtmaterialien. Zusammenfassend ist CAMECA IMS-4F Spektrometer ein leistungsstarkes Werkzeug für die hochräumige Bildgebung und Tiefenprofilierung von Dünnschichtmaterialien. Der Vier-Elemente-Kollektor und die fortschrittliche Optik ermöglichen eine genaue isotopische Charakterisierung von Proben für eine Vielzahl von Anwendungen. Mit seiner Fähigkeit, Partikel mit einer Größe von 0,3 Nanometern abzubilden, ist es ein sehr vielseitiges und genaues Massenspektrometer.
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