Gebraucht CAMECA IMS 5F #293652624 zu verkaufen

CAMECA IMS 5F (Ion Microprobe Secondary Ion Mass Spectrometer) ist ein einzigartiges und leistungsstarkes Analysewerkzeug auf Basis der SIMS-Technik (Secondary Ion Mass Spectrometry), das Oberflächen, Grenzflächen und dünne Filme mit hoher dimensionaler und chemischer Auflösung untersuchen kann. IMS 5F ermöglicht die Analyse der Oberflächenelementzusammensetzung, die quantitative 3D-Abbildung topographischer Oberflächenmerkmale sowie die elementare und isotopische Abbildung mit einer Reihe von Isotopenverhältnissen und Nachweisgrenzen, die mit anderen Techniken nicht erreichbar sind. Die Leistung des Instruments wird durch seine patentierte primäre Ionenquelle Cs $ ^ + $ weiter gesteigert, deren Kombination CAMECA IMS 5F ideal für eine Reihe von Anwendungen zur Materialanalyse macht, wie die Spurenelementanalyse von Materialien, Topographie und Tiefenprofilierung. Mit Hilfe einer speziell entwickelten Datenerfassungs- und Analysesoftware kann IMS 5F die elementare und isotopische Zusammensetzung organischer und anorganischer Proben in einer Reihe von Zusammensetzungsskalen identifizieren und quantifizieren. Aufgrund seiner hohen Massenauflösung und Nachweisgrenzen ist CAMECA IMS 5F in der Lage, qualitative und quantitative elementare und isotopische Analysen bis hin zum subatomaren Niveau durchzuführen. Mit einem Ionenstrahl von Primary Cs $ ^ + $ ist IMS 5F in der Lage, Proben von bis zu 150 nm Dicke und Flächendeckung bis zu 170 Millionen Å $ ^ 2 $ zu profilieren. CAMECA IMS 5F hat den zusätzlichen Vorteil, mit einem variablen Primärstrahlstrom zu arbeiten, wodurch Benutzer aus einer Auswahl von Ionenstrahlströmen von 0,05 pA bis 3500 pA wählen können. Diese Funktion gibt dem Benutzer die Möglichkeit, mit einem Bereich von dynamischen Tiefen und seitlichen Auflösungen zu probieren. IMS 5F bietet auch hochempfindliche Bildzuordnung mit seitlichen Auflösungen bis zu 1 nm und bis zu 4,8 mm $ ^ 2 $ im Bereich. Der Dynamikbereich von CAMECA IMS 5F Imaging liegt von niedrigen ppm-Werten bis zu mehreren Gewichtsprozenten des berichteten Elements. Die Kombination seiner elementaren und isotopischen Analysefähigkeiten mit hochauflösender Bildgebung und Tiefenprofilierung bedeutet, dass IMS 5F für eine Vielzahl wichtiger Anwendungen gut geeignet ist, einschließlich, aber nicht beschränkt auf: 3D-Bildgebung von Oberflächen und Merkmalen, Materialanalyse, nanoskalige Analyse, elektronische Dotierungsanalyse, Tiefenprofilerstellung und Kontaminationsstudien, Halbleiter- und Keramikanalyse, Zusammensetzungsanalyse und Materialvalidierung.